プレシジョン・ソース/メジャー・ユニット
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ソース・メジャー・ユニットによる低電力ICの特性評価

低電力の集積回路(IC)の電流/電圧特性を測定する従来のテスト・セットアップでは、さまざまな基本的な測定器が必要です。 セットアップには、異なる電圧要件のさまざまなテストポートに必要な電圧を供給する複数の電源と、電圧と電流を測定するためのデジタル・マルチメータ(DMM)が含まれます。 テストケースの中には、信号をシミュレートするパルス発生器とタイムドメインで信号を捕捉するデジタイザが必要な場合もあります。

電源/電流計/電圧計/デジタイザとしてソース・メジャー・ユニット(SMU)を使用し、マルチチャネル同期電流/電圧(IV)測定を行います。 特に、ミリアンペア(mA)以下の精度レベルのICの場合、スリープ電流測定の前に測定器の自己校正と正確な測定範囲を設定します。 正確なダイナミック測定のために、SMUのサンプリングレートはスリープ状態からアクティブ状態の間に信号を捕捉するのに十分な速さでなければなりません。

ICテストソリューション

低電力IC特性評価ソリューション

低電力ICの特性評価には、複数の電源、デジタル・マルチメータ(DMM)、パルス発生器、デジタイザなど、さまざまな基本的な測定器が必要です。 キーサイトの低電力IC特性評価ソリューションには、パルサ/デジタイザ内蔵の1Uラックに20チャネルのSMUを提供するPZ2100シリーズSMUと、PW9251A PathWave IV曲線測定ソフトウェアが含まれます。 このソリューションにより、超低電流/電圧レベルのさまざまな動作条件下でのIV特性評価が可能になり、回路設計の検証、不具合や問題の特定、性能の最適化が行えます。

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