M8000シリーズ ビット・エラー・レシオ・テスター

今後のデザインを極める

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ハイライト

デザイン検証の作業時間を劇的に短縮

次世代のコンピューター/民生用/コミュニケーションデバイスの開発にはシンプルで時間効率の高いテストが不可欠です。Keysight M8000シリーズは高度に統合されたビット・エラー・レシオ(BER)テストソリューションで、物理層の評価/検証/コンプライアンステストに最適です。M8000シリーズは、さまざまなデータレートや規格をサポートし、正確で信頼性の高い測定を提供し、高速デジタルデバイスの性能マージンの効率的な解析を実現します。

M8000シリーズを使えばデザイン検証の作業時間が劇的に短縮されます。

  • 8.5~64 G baudのデータレート、パターンジェネレーターおよびエラーアナライザの場合
  • PAM4(パルス振幅変調4)とNRZ(non-return-to-zero)を選択可能
  • クロック/データリカバリーおよびイコライゼーション内蔵
  • ディエンファシスおよび調整可能符号間干渉(ISI)を統合
  • PCIeおよびAXIeシャーシ
  • マルチチャネルアプリケーション

主な仕様

データレート

8.5~64 G baud

統合されたテクノロジー

ISI、クロックリカバリー、イコライゼーション、ディエンファシス

チャネル数

1~10

M8000サポートモジュール

チャネル損失のエミュレーションやレシーバー測定結果のディエンファシスが必要な場合、これらのモジュールを追加してください

パルス振幅変調(PAM)

400ギガビットイーサネット(GE)規格では、シリアル400GEデータ・センター・インタフェースを実装するための推奨変調方式として、4レベルPAM(PAM4)マルチレベルシグナリングが定義されています。これは、100GEで使用されている2ステートのNRZ変調から進化したものです。PAM4の場合、リンク帯域幅のデータレートが実質的に2倍になりますが、代わりにS/N比(SNR)が低下します。

以前のNRZデザインでは問題にならなかった障害を特性評価するため、新しい測定が必要となります。キーサイトの製品を使用すると、正確で再現性のある結果が得られるため、PAM4インタフェースコンポーネントおよびシステムの開発時間を短縮できます。

M8000シリーズの最も一般的なリソース

キーサイトの絶えず拡大するリソースの選択肢から、測定確度の向上に役立つ製品を探して、優れたデザインの実現につなげてください。

ご要望、ご質問はございませんか。