M8000シリーズ ビット・エラー・レシオ・テスター

次のデザインを極める

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ハイライト

デザイン検証の作業時間を劇的に短縮

次世代のコンピューター、コンシューマー、または通信デバイスを開発する場合、時間効率の良いテストの簡素化が不可欠です。キーサイトM8000シリーズは高度に統合されたビット・エラー・レシオ(BER)テストソリューションは、物理層の評価/検証/コンプライアンステストに最適です。幅広いデータレートと規格をサポートするM8000シリーズは、高速デジタルデバイスのパフォーマンスマージンに対する洞察を加速する、正確で信頼性の高い結果を提供します。

M8000シリーズでハイギアにシフトし、デザイン検証の時間を高速化しましょう。

  • たった1台のハードウェアで、PAM4(パルス振幅変調4)およびNRZ(non-return-to-zero)形式の信号をソフトウェアで選択可能
  • 2~64 Gbit/sのNRZデータレートのパターン作成およびエラー解析
  • 2~64 GbaudのPAM4データレートのパターン作成および最大58 Gbaud (116 Gbit/s)のエラーアナライザ
  • 2~64 Gbaudのクロック/データリカバリー、イコライゼーションを内蔵
  • 内蔵ディエンファシスと調整可能な符号間干渉(ISI)
  • マルチチャネル機能
  • 柔軟なハードウェアによりアプリケーションの変更が必要になった場合でも投資を保護

主な仕様

データレート

8.5 ~ 64 GBaud

統合されたテクノロジー

ISI、クロックリカバリー、イコライゼーション、ディエンファシス

チャネル数

1 ~ 10

パルス振幅変調(PAM)

400ギガビットイーサネット(GE)規格では、シリアル400GEデータ・センター・インタフェースを実装するために、推奨振幅形式として4レベルPAM(PAM4)マルチレベルシグナリングが定義されています。これは、100GEで用いられていた2ステートのNRZ変調からの進化です。PAM4では、同じリンク帯域幅でデータレートが実効的に2倍になりますが、代償としてS/N比が低下します。

従来のNRZデザインでは問題にならなかった信号劣化を評価するために、新しい測定が必要になります。キーサイトは、PAM4インタフェースのコンポーネントとシステムの開発を加速するため、正確で再現性の高い測定結果が得られるようにお手伝い致します。

M8000シリーズの最も一般的なリソース

より正確な測定を⾏い、より優れた設計を実現するために、⽇々増え続けるキーサイトのリソースの選択肢をご覧ください。

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