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N1085A イーサネット/OIF-CEI用PAM-4測定アプリケーション

販売/サポート

販売・サポート終了製品

後継機種

N109256CB OIF-CEI-4.0用電気TXテストSW

N1091BSCB IEEE802.3bs/cd(50/100/200/400 Gb/s)用の電気TXテストソフトウェア

テスト時間を数時間から数分に短縮できます。 86100D DCA-Xシリーズオシロスコープ用のKeysight N1085A ソフトウェアアプリケーションを使用すれば、4値パルス振幅変調(PAM-4)のデザインを以下のドラフト規格の概要に従って測定できます。

以下を含む25個以上のテストを実行可能

レベルベース測定（リニアリティパターンを使用）
- 電圧レベル
- レベルの濃淡(rms)
- Smin、Vavg、ES1、ES2などのレベル分離ミスマッチ率(RLM)
出力電圧テスト
- ピーク・ツー・ピーク差（Txオン／オフ）
- ACコモンモード出力電圧
- DCコモンモード出力電圧
出力波形測定
- 定常状態の電圧、Vf
- リニアフィット・パルス・ピーク
- 信号対雑音＋歪み比(SNDR)
- 正規化係数ステップサイズ
- フルスケール・レンジ・テスト
ジッタ測定（JP03A/JP03Bパターンを使用）
リターンロス測定（N1055A TDRまたはENA/PNAを使用）

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