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キーサイトの先進の拡張性に富む統合された信頼性 (ASUR) の製品ファミリは、異なるニーズ、予算、経験レベルおよび計画に応じてソリューションを提供します。単一デバイス信頼性 (ASUR SDR) 製品は、PC と測定器ベースのソリューションで、実証済みの試験アルゴリズムを使い、最新の装置を投入して 1 度に 1 デバイスの信頼性試験をおこないます。ASUR SDR は、複数の試験サイトで並列試験をおこなう ASUR PDR を補完します。
ASUR SDR は、高性能低価格の加速信頼性試験およびパラメトリック試験ソリューションです。測定器ベースのソリューションで、実証され た Core Wafer Systems PDQ-WLR の加速技法を統合した単一サイト試験ソリューションです。ASUR SDR は、1 つのハードウェア、1 つのソフトウェアで測定器からシステム・テスタまで、オンウェハーからパッケージまで拡張できる ASUR の一つです。
ASUR の中の JEDEC 標準の信頼性試験アルゴリズムは 5 代目です。このスイートは、完全に試験され、10 年を越えるフィールドにおける経験と検証に支えられています。
PDQ-WLR は、Core Wafer Systems 社の登録商標です。