Como aumentar a produtividade nos testes de PCBA

Sistema de Testes Paralelos Especializado
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Aumentar a produtividade dos testes em linha

A fabricação de produtos eletrônicos em grande escala exige testes de placas em linha que acompanhem o ritmo das linhas de produção automatizadas com tecnologia de montagem em superfície (SMT). O sistema de teste deve suportar o fluxo contínuo de placas, o manuseio automatizado, o engate rápido dos dispositivos de fixação e uma cobertura abrangente de testes, ao mesmo tempo em que minimiza o tempo de ciclo para evitar gargalos na produção e manter a produtividade da fabricação.

O processo de teste envolve a transferência de cada conjunto de placa de circuito impresso (PCBA) para a estação de teste, a execução de várias operações de teste e o encaminhamento da placa para a próxima etapa de fabricação. Alcançar um maior rendimento depende da minimização do manuseio, da sincronização da execução dos testes, da redução do tempo de ciclo e da coleta de dados de produção para rastreabilidade e otimização do processo.

Solução de teste de placas com alto rendimento

Para aumentar a produtividade na fabricação, é necessário reduzir o tempo do ciclo de teste, minimizar o manuseio das placas e executar vários processos de teste sem interromper o fluxo de produção. O sistema de teste paralelo Keysight Expert, o i7090, atende a esses requisitos ao combinar teste em circuito, boundary scan, programação de memória flash, teste de LEDs e teste funcional em uma única plataforma automatizada. Sua arquitetura massivamente paralela, com suporte para até vinte núcleos de teste independentes, permite que várias operações de teste sejam executadas simultaneamente, reduzindo o tempo total de teste e eliminando a necessidade de várias estações de teste autônomas. A integração com sistemas automatizados de manuseio de placas e com o PathWave Manufacturing Analytics mantém o fluxo contínuo das placas, ao mesmo tempo em que oferece rastreabilidade da produção, visibilidade do rendimento e insights de fabricação para a otimização contínua do processo.

Veja o diagrama de blocos da solução de teste de placas de alto rendimento

Diagrama de blocos de uma solução de teste de placas de alto rendimento

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