Wie man den Durchsatz von PCBA-Tests erhöht

Expert Paralleles Testsystem
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Steigerung des Inline-Testdurchsatzes

Die Elektronikfertigung in großen Stückzahlen erfordert Inline-Platinentests, die mit automatisierten SMT-Produktionslinien (Surface Mount Technology) Schritt halten. Das Testsystem muss einen kontinuierlichen Platinenfluss, automatisierte Handhabung, schnelles Einrasten der Testvorrichtung und eine umfassende Testabdeckung gewährleisten und gleichzeitig die Zykluszeit minimieren, um Produktionsengpässe zu vermeiden und den Fertigungsdurchsatz aufrechtzuerhalten.

Der Testprozess umfasst das Einbringen jeder Leiterplattenbaugruppe (PCBA) in die Teststation, die Durchführung mehrerer Testvorgänge und die Weiterleitung der Platine an den nächsten Fertigungsschritt. Ein höherer Durchsatz wird durch die Minimierung von Handhabungsschritten, die Synchronisierung der Testausführung, die Reduzierung der Zykluszeit und die Erfassung von Produktionsdaten zur Rückverfolgbarkeit und Prozessoptimierung erreicht.

Hochdurchsatz-Platinentestlösung

Eine Steigerung des Fertigungsdurchsatzes erfordert kürzere Testzykluszeiten, eine Minimierung des Platinenhandlings und die Durchführung mehrerer Testprozesse ohne Unterbrechung des Produktionsablaufs. Keysight Expert Das Paralleltestsystem i7090 erfüllt diese Anforderungen durch die Kombination von In-Circuit-Test, Boundary-Scan, Flash-Programmierung, LED-Test und Funktionstests auf einer einzigen automatisierten Plattform. Seine massiv parallele Architektur, die bis zu zwanzig unabhängige Testkerne unterstützt, ermöglicht die gleichzeitige Ausführung mehrerer Testvorgänge. Dies reduziert die Gesamttestzeit und macht mehrere eigenständige Teststationen überflüssig. Die Integration mit automatisierten Leiterplattenhandhabungssystemen und PathWave Manufacturing Analytics gewährleistet einen kontinuierlichen Leiterplattenfluss und bietet gleichzeitig Rückverfolgbarkeit in der Produktion, Transparenz der Ausbeute und Einblicke in die Fertigung zur kontinuierlichen Prozessoptimierung.

Siehe Blockdiagramm der Testlösung für Hochdurchsatzplatinen.

Blockdiagramm einer Testlösung für Hochdurchsatzplatinen

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