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無線射頻遠端網路架構測試，參考解決方案
Highlights
無線射頻遠端網路架構測試、參考解決方案提供了實體層介面和向量信號分析與產生功能，用於對遠端射頻收發模組（RRH）進行全面的功能和效能測試：全面評估上行鏈路和下行鏈路、射頻空中介面，以及數位“去程”之間的往返路徑。
使用標配的 "in-service" 射頻、CPRI 和直流電源埠，來連接並控制您的 RRH，執行基於 3GPP 標準的預先定義效能測試，解決方案中嵌入了量測專業技術，讓您能快速推進到結果驗證階段，不必花費大量時間開發客製的測試硬體和複雜的測試方法。
參考解決方案功能
- 小型、可配置的架構，專為高速測試而最佳化
- 針對 RRH 效能驗證而最佳化的預先定義測試方法
- 直接與 RRH 實體層連接相連：基頻、雙射頻、直流電源
優點
- 顯著降低總體測試成本 ― 減少您的支出並改善量測速率
- 快速而自信地完成您的測試與量測專案
- 簡化您的測試台並節省資源 ― 無需開發和維護客製的 “去程” 和射頻切換功能
主要技術規格
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LTE-FDD 上行鏈路/下行鏈路測試，CPRI 和射頻介面，2 路收發器（TRX），直流電源
準確地量測上行鏈路和下行鏈路效能，去程至射頻。
此配置提供現成的測試方法，可用於 LTE-FDD 遠端射頻收發模組的信號產生與分析，透過 CPRI（選配）和射頻實體層介面支援多達兩個發射接收路徑。
- CPRI（選配）和射頻實體層介面支援 2 個 TRX
- 下行鏈路效能，CPRI 至射頻
- 上行鏈路效能，射頻至 CPRI
- 取樣測試自動化
LTE-TDD 上行鏈路/下行鏈路測試，CPRI 和射頻介面，2 路收發器（TRX）客製信號和功耗
準確地量測上行鏈路和下行鏈路效能，去程至射頻。
此配置提供現成的測試方法，可用於 LTE-TDD 遠端射頻收發模組的信號產生和信號分析，以及客製的信號產生功能，透過 CPRI（選配）和射頻實體層介面支援多達兩個發射接收路徑。
- CPRI（選配）和射頻實體層介面支援 2 個 TRX
- 下行鏈路效能，CPRI 至射頻
- 上行鏈路效能，射頻至 CPRI
- 產生客製信號
- 電壓與電流特性分析
LTE-TDD 上行鏈路/下行鏈路測試，CPRI 和射頻介面，2 路收發器（TRX），直流電源
準確地量測上行鏈路和下行鏈路效能，去程至射頻
此配置提供現成的測試方法，可用於 LTE-TDD 遠端射頻收發模組的信號產生和信號分析，透過 CPRI（選配）和射頻實體層介面支援多達兩個發射接收路徑。
- CPRI（選配）和射頻實體層介面支援 2 個 TRX
- 下行鏈路效能，CPRI 至射頻
- 上行鏈路效能，射頻至 CPRI
- 取樣測試自動化
LTE-FDD 上行鏈路/下行鏈路測試，CPRI 和射頻介面，2 路收發器（TRX）客製信號和功耗
準確地量測上行鏈路和下行鏈路效能，去程至射頻。
此配置提供現成的測試方法，可用於 LTE-FDD 遠端射頻收發模組的信號產生與分析，以及客製的信號產生功能，透過 CPRI（選配）和射頻實體層介面支援多達兩個發射接收路徑。
- CPRI（選配）和射頻實體層介面支援 2 個 TRX
- 下行鏈路效能，CPRI 至射頻
- 上行鏈路效能，射頻至 CPRI
- 產生客製信號
- 電壓與電流特性分析
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