計算器 測試方法 適用於 額外功能 平台/要求 版本
電子試算表


Y 係數法


● 具雜訊指數應用軟體的信號分析儀
● 雜訊指數分析儀

 公開的方程式、儀器規格、統計資料 可下載的 Excel 檔 2017 年 9 月 1 日
PNA-X 冷源法 ● PNA-X 微波網路分析儀   可下載的 zip 檔，需要 VEE 2012 年 1 月
FieldFox Y 係數法 ● FieldFox 手持式微波分析儀 儀器規格，使用者輸入或預先定義的前置放大器和雜訊源規格、待測元件特性和可選擇的系統資訊 可下載的 Excel 檔 2019 年 9 月 日

衛星和無線通訊市場的突飛猛進，帶動了使用者對整體系統效能提出更高要求，並希望子系統及其元件的雜訊指數量測與效能也必須同時獲得改善。

要想確保量測準確度，首先必須瞭解各個變數對整體量測不確定性的影響。使用雜訊係數分析儀進行量測時，量測系統通常包括：

  • 分析儀本身
  • 雜訊源
  • 被測物（DUT）特性

這些因素雖然錯綜複雜並且相互影響，但我們仍然可以用建模的方法來確定其整體量測不確定性。雜訊係數不確定性計算器旨在根據特定待測物的特性和量測系統的規格，來確定與該待測物有關的量測不確定性。為確保 Y 係數量測方法中的模型準確度，待測物必須具有合理的反向隔離度，進而使某個埠上的失配對其他埠上的阻抗沒有顯著影響。如欲瞭解更多的分析功能，請參閱 Duncan Boyd 撰寫的《雜訊係數量測不確定性的計算》（Microwaves & RF 1999 年 10 月期，第 93 至 102 頁）。

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