기록된 과도 신호를 재현하는 방법

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복잡한 과도 이벤트 재현

과도 전기 이벤트는 표준 사인파, 구형파, 펄스 또는 램프 신호로는 단일 자극으로 재현할 수 없는 빠른 진폭 변화, 오버슈트, 링잉, 감쇠 및 타이밍 변화를 포함할 수 있습니다. 이벤트가 예측 불가능하게 또는 한 번만 발생할 경우 엔지니어는 피시험 장비(DUT)를 동일한 전기적 조건에 반복적으로 노출할 수 없으므로, 작동점 또는 설계 리비전 간의 비교가 어려워집니다.

이벤트를 다시 생성하려면 측정된 전압 대 시간 프로파일을 유지하고, 대상 인터페이스에 맞게 크기를 조정한 후, 일관된 타이밍으로 반복해서 적용해야 합니다. 원본 과도 현상, 재생된 입력, DUT 응답을 오실로스코프로 포착하여 진폭, 타이밍, 오버슈트, 복구, 클리핑, 링잉을 비교합니다. 이를 통해 반복 가능한 디바이스 거동과 원래 이벤트의 변동을 구분할 수 있습니다.

기록된 과도 현상 재현 솔루션

오실로스코프 캡처를 샘플링된 전압 대 시간 데이터로 변환하고, 데이터를 임의 파형으로 로드한 후, 오실로스코프가 응답을 기록하는 동안 피시험 장치로 재생하여 테스트를 수행합니다. 고급 벤치탑 파형 및 함수 생성기에는 옵션 임의 파형 기능이 탑재되어 있어, 반복 가능한 과도 재생을 위해 최대 샘플 속도 160 MSa/s의 20 MHz 단일 채널 소스를 제공합니다. 샘플 속도, 진폭, 오프셋, 출력 종단, 필터링, 트리거 모드, 반복 간격을 구성하여 디바이스 입력에서 의도한 파형을 재현합니다. 디바이스 응답을 해석하기 전에 재생된 신호를 원래 캡처와 비교하십시오.
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