기록된 과도 신호를 재현하는 방법

+ Advanced 벤치탑 파형 및 함수 발생기

복잡한 과도 현상 재현

일시적인 전기적 현상은 급격한 진폭 변화, 오버슈트, 링잉, 감쇠 및 타이밍 변동을 포함할 수 있으며, 이러한 현상은 표준 사인파, 구형파, 펄스 또는 램프 신호로는 단일 자극으로 재현할 수 없습니다. 현상이 예측 불가능하게 발생하거나 단 한 번만 발생할 경우, 엔지니어들은 피시험 장치(DUT)를 동일한 전기적 조건에 반복적으로 노출시킬 수 없으므로, 작동점 간 비교나 설계 수정 사항에 대한 평가가 어려워집니다.

이 현상을 재현하려면 측정된 전압-시간 파형을 보존하고, 이를 대상 인터페이스에 맞게 조정하며, 일관된 타이밍으로 반복적으로 적용해야 합니다. 원래의 과도 현상, 재현된 입력 신호 및 피시험 장치(DUT)의 응답을 오실로스코프로 포착한 후, 진폭, 타이밍, 오버슈트, 회복, 클리핑 및 링잉을 비교합니다. 이를 통해 재현 가능한 소자 동작과 원래 현상의 변동 요소를 구분할 수 있습니다.

기록된 과도 현상 재현 솔루션

오실로스코프 캡처 데이터를 샘플링된 전압-시간 데이터로 변환하고, 이 데이터를 임의 파형으로 불러온 다음, 오실로스코프가 응답 신호를 기록하는 동안 피시험 장치에 재생하여 테스트를 수행합니다. 옵션으로 제공되는 임의 파형 기능을 탑재한 고급 벤치탑 파형 및 함수 발생기는 20 MHz의 단일 채널 소스와 최대 160 MSa/s의 샘플링 속도를 제공하여 반복 가능한 과도 현상 재생을 가능하게 합니다. 샘플링 속도, 진폭, 오프셋, 출력 종단, 필터링, 트리거 모드 및 반복 간격을 구성하여 피시험 장치 입력부에서 의도된 파형을 재현하십시오. 장치 응답을 해석하기 전에 재생된 신호를 원본 캡처 데이터와 비교하십시오.

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