고정구 내 VNA 측정을 정확하게 수행하는 방법

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픽스처 내 VNA 측정

픽스처 내 벡터 네트워크 분석기 측정은 분석기 테스트 포트에 직접 연결하는 대신 테스트 픽스처를 통해 피시험 장치를 연결합니다. 이 설정은 분석기, 교정된 케이블, 픽스처 인터페이스 및 반복 가능한 장치 장착 장치로 구성됩니다. 엔지니어는 원하는 장치 기준면을 식별하고 특성을 분석하거나 제거해야 하는 픽스처 효과를 결정합니다. 분석기는 장치에 적절한 포트 전력 및 주파수 설정으로 필수 주파수 스팬 전반에서 산란 파라미터를 획득합니다. 픽스처 송신 및 반사는 관측된 응답에 영향을 미칠 수 있으므로, 측정된 데이터는 픽스처 및 그 전기적 거동과 관련하여 해석되어야 합니다.

절차는 액세스 가능한 인터페이스에서의 교정으로 시작하며, 사용 가능한 표준 및 측정 설정이 지원하는 픽스처 특성화 또는 보정이 뒤따릅니다. 그런 다음 일관된 장치 접촉 압력과 연결 형상으로 보정된 산란 파라미터를 측정합니다. 반복 설치를 통해 커넥터, 런치 및 픽스처 감도를 평가하며, 알려진 장치나 기준 구조는 가능할 때 검증을 지원합니다. 최종 트레이스에는 픽스처, 교정, 보정, 스윕 및 반복성 기록이 포함되어 완벽한 기생 성분 제거를 가정하지 않고도 픽스처 효과를 장치 응답과 구분하는 데 도움을 줍니다.

정밀한 고정구 내 VNA 측정 수행 솔루션

교정된 벡터 네트워크 분석기(VNA), 적합한 무선 주파수(RF) 인터커넥트, 그리고 원치 않는 전송 및 반사 효과를 설명하는 픽스처 특성화 기법을 사용하여 정확한 픽스처 내 측정을 수행합니다. 측정 설정에는 정확한 측정 기준면을 설정하기 위해 호환되는 교정 표준, 안정적인 픽스처 연결 및 적절한 오류 보정 방법이 필요합니다. 측정 워크플로는 액세스 가능한 기준면에서의 교정으로 시작되며, 이어서 픽스처 특성화 및 적절한 디임베딩 기법 적용이 진행됩니다. 그런 다음 엔지니어는 픽스처 관련 측정 오류의 영향을 줄이면서 삽입 손실, 반사 손실 및 전송 응답을 측정할 수 있습니다. 이 솔루션은 구성 가능한 주파수 스윕, 중간 주파수 대역폭 및 트레이스 평균화를 통해 산란 파라미터(S 파라미터) 측정을 지원합니다. 호환되는 교정 표준 및 픽스처 보정 방법과 결합된 이러한 기능을 통해 필수 주파수 범위에서 반복 가능한 장치 특성화를 수행할 수 있습니다. 결과로 산출된 보정된 S 파라미터를 통해 엔지니어는 픽스처의 전기적 특성과 선택된 보정 방법의 한계를 고려하면서 장치 성능을 평가할 수 있습니다.
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