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PW9251A PathWave IV 곡선 측정 소프트웨어는 프로그래밀 없이도 동기식 전류-전압(IV) 측정을 쉽고 빠르게 실행하고, 테스트 결과를 그래프와 표로 즉시 검토할 수 있도록 하여 연구, 개발, 설계 검증을 가속화할 뿐 아니라, 효율적으로 보고서를 생성합니다.

• 프로그래밍 없이 동기식 전류-전압(IV) 측정 수행
• 마커와 표를 사용하여 그래프에서 테스트 결과 검토
• 그래프의 경우 이미지 파일로, 표는 csv 파일로 내보내 사후 처리 또는 보고서 생성
• 전체 테스트 설정을 로드/저장해 테스트 결과의 반복 및 검토
• 데모 모드에섑 기능을 미리 확인해 볼 수 있어 소프트웨어 라이센스 없이도 전체 어플리케이션의 기능 확인 가능

쉬운 전원 공급기 제어 및 간소화된 자동화

쉬운 전원 공급기 제어를 통해 트렌드 차트에서 I/V 데이터를 시각화하고 파라미터를 설정할 수 있도록 지원합니다.

• 특정 이벤트에 대한 전력 소모의 영향을 이해할 수 있도록 전원 공급기 출력을 추적하고 기록합니다.
• 클라우드를 통해 전원 공급기를 연결하고 제어합니다.
• 추가 분석을 위해 MATLAB, Microsoft Excel, Word 등 인기 도구로 데이터를 내보낼 수 있습니다.
• 새로운 장치를 구입할 때마다 KeysightCare 소프트웨어 지원을 구독하고 라이선스를 받을 수 있습니다. 

키사이트 PW9252A PathWave 고급 전력 제어 및 분석 소프트웨어는 N6705C DC 전력 분석기, RP7900 시리즈 회생 전력 시스템 및 N7900 시리즈 고급 전력 시스템 전원 공급 장치의 정교한 소싱 및 측정 기능에 대한 원활한 액세스를 제공합니다. 이 고급 도구를 사용하면 여러 N6705C, N7900, RP7900 시리즈 또는 E36150 시리즈 장치에서 전압 및 전류 측정을 정밀하게 제어하고 분석할 수 있습니다. PW9252A를 통해 다음을 수행할 수 있습니다.

• 최대 10개의 장비를 동시에 제어합니다. (구매한 라이선스 수에 따라 각 라이선스는 하나의 장비에 연결됩니다.)
• 이벤트가 전력 소비에 미치는 영향을 평가하기 위해 전원 공급 장치 출력을 추적하고 기록합니다.
• 세 가지 모드로 전력 시스템을 구성하고 분석합니다.
  • 스코프(단기 파형 캡처)
  • 데이터 로거(장기 파형 캡처)
  • 보완 누적 분포 함수(통계 분석)
• 내장 기능, 가져온 데이터 또는 사용자 지정 공식을 사용하여 테스트 중인 장치를 자극하거나 부하를 걸기 위한 복잡한 파형을 생성합니다.
• 추가 전력 시스템 분석을 위해 데이터를 내보내고 PW9253A PathWave 고급 배터리 테스트 및 에뮬레이션 소프트웨어로 원활하게 전송합니다.

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PathWave 고급 전력 제어 및 분석 소프트웨어

PW9253A는 고유한 배터리 모델 기반 에뮬레이션을 사용하여 더 높은 정확도, 반복성 및 안전성을 제공하도록 설계된 고급 도구입니다. 이 도구를 사용하면 장치의 전력 소비를 분석하고, 실제 배터리를 에뮬레이션하며, 기존 배터리 모델을 가져와 테스트할 수 있습니다. 각 라이선스는 하나의 장비에 연결되며, 최대 10개의 장비를 동시에 지원하여 확장 가능하고 포괄적인 테스트를 가능하게 합니다.

PW9253A를 통해 다음을 수행할 수 있습니다.

• 디바이스의 전력 소비 방식을 분석합니다.
• 실제 배터리 성능 및 동작을 시뮬레이션합니다.
• CSV 파일에서 기존 배터리 모델 데이터를 가져옵니다.
• 최대 200kW 및 2kV의 배터리를 테스트하고 에뮬레이션합니다.
• 충전/방전 사이클을 통해 배터리를 프로파일링하여 고유한 배터리 모델을 생성합니다.

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PathWave 고급 배터리 테스트 및 에뮬레이션 소프트웨어

• PathWave IV 곡선 측정 — PW9251A
• PathWave Advanced Power Control 및 분석 — PW9252A
• PathWave Advanced Battery Test 및 에뮬레이션 — PW9253A

이 번들은 최대 10개의 계측기를 동시에 지원하며, 전력 제어 분석 및 배터리 테스트 애플리케이션 간에 실시간 데이터 공유를 제공합니다. 이 번들을 구매하면 다음을 수행할 수 있습니다.

• 전력 제어 분석 및 배터리 테스트 애플리케이션 간에 실시간으로 데이터를 공유합니다.
  
• 여러 도구를 하나의 통합 제품군으로 통합하여 애플리케이션 간 전환 필요성을 없앱니다.
• 포괄적인 테스트를 위해 최대 10개의 계측기를 동시에 지원합니다. (구매한 라이선스 수에 따라 각 라이선스는 하나의 계측기에 연결됩니다.)
• 애플리케이션에서 사용 가능한 동시 채널 출력 수를 확장합니다.

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PathWave Advanced Power Application Suite 번들

PX0109A는 PXIe 정밀 SMU를 제어하는 필수적이고 강력한 소프트웨어 도구로, 스윕 측정, 샘플링 측정, 그래픽 디스플레이 기능, 테스트 결과를 CSV 파일로 저장하는 기능 등 다양한 기능을 지원하여 프로그래밍 없이도 IV 측정을 신속하게 설정하고 수행하며 측정 데이터를 표와 그래프로 쉽게 표시할 수 있습니다.

• M9601A, M9602A, M9603A, M9614A 및 M9615A 지원
• 최대 10채널 지원
• 전류-전압 스윕 측정
• 전류-전압 시간 도메인 측정

소프트웨어 세부 정보

PXIe 정밀 SMU 다운로드용 빠른 I/V 측정 소프트웨어

W7801B PathWave WaferPro WGFMU 측정의 특징:

• WaferPro Express 측정 플랫폼과의 매끄러운 통합
• 고급 데이터 표시 및 분석, 바이어스 전류 대비 노이즈 데이터 비교 및 모델링
• 모든 주요 웨이퍼 프로빙 시스템의 자동화된 제어
• 플리커 노이즈 특성화를 위한 다중 바이어싱 구조 내장
• 키사이트 디바이스 모델링 소프트웨어와 호환되는 측정된 데이터
• RTN에 대한 Ton 및 Toff 분석

W7801B PathWave WaferPro Express WGFMU 측정 번들은 B1530A WGFMU(Waveform Generator/Fast Measurement Unit)와 함께 B1500A 반도체 디바이스 분석기를 사용하여 웨이퍼에서 자동화된 랜덤 텔레그래프 노이즈(RTN) 측정을 낮은 비용으로 수행합니다. 이 번들은 웨이퍼 프로버 제어를 포함하여 RTN 측정 및 데이터 분석 효율을 개선할 수 있습니다.

W7802B PathWave WaferPro A-LFNA 측정 및 프로그래밍의 특징:

• PathWave WaferPro 측정 플랫팼과의 매끄러운 통합
• 고급 데이터 표시 및 분석, 바이어스 전류 대비 노이즈 데이터 비교 및 모델링
• 모든 주요 웨이퍼 프로빙 시스템의 자동화된 제어
• A-LFNA Module supporting DC measurement, 1/f noise, Random Telegraph Noise (RTN), and data analysis
• 스루풋 정확도 트레이드오프를 위한 유연한 하드웨어 평균화
• 플리커 노이즈 특성화를 위한 다중 바이어싱 구조 내장
• 키사이트 디바이스 모델링 소프트웨어와 호환되는 측정된 데이터
• 안내 방식 시스템 교정 절차
• PEL 및 Python 측정 루틴 언어 지원
• RTN에 대한 Ton 및 Toff 분석
  

A-LFNA(Advanced Low-Frequency Noise Analyzer) 소프트웨어 및 사용자 인터페이스가 PathWave WaferPro 측정 플랫폼 상에 구축되었습니다. 이제 엔지니어는 유연하고 확장 가능한 측정 시스템에서 전체 웨이퍼 레벨 특성화를 관리하고 자동화할 수 있습니다. 이전과 마찬가지로 웨이퍼 프로버 제어를 자동화하면서 PathWave WaferPro를 사용하여 고속 DC, 커패시턴스 및 RF(파라미터 측정 형태)를 프로그래밍하고 시퀀싱할 수 있습니다. 이제 노이즈 측정 모듈을 사용하여 노이즈 측정과 분석 기능을 테스트 제품군에 추가할 수 있습니다.

A-LFNA의 내장된 측정 루틴이 DC 및 노이즈 측정 턴키를 만듭니다. 예를 들어 N-Type MOSFET에서 노이즈를 측정하려는 경우, 시스템은 내재적 디바이스 노이즈를 가장 잘 노출할 소스 및 부하 임피던스를 자동으로 선택합니다. 엔지니어가 이러한 권장 설정을 그대로 사용하거나 변경할 수 있으며, 이후 노이즈 측정이 시작됩니다. 그런 다음 A-LFNA가 시간 도메인의 노이즈(RTN)와 노이즈 전력 스펙트럼 밀도(1/f 노이즈)를 측정합니다. 결과적인 데이터는 “멀티포트” 데이터 표시 창을 사용하여 플롯됩니다. 다양한 탭을 통해 디바이스 DC 작동 지점 평가, 전력 스펙트럼 밀도 곡선 기울기 측정 등 일반적인 작업을 쉽게 진행할 수 있습니다.