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有了 PW9251A PathWave IV 曲線量測軟體，您無需編寫程式，即可快速輕鬆地執行同步電流電壓（IV）量測，以便加速進行研究、開發和設計驗證。它還提供以圖表呈現的測試結果，讓您可高效率地產生報告。

• 無需編寫程式即可執行同步電流 - 電壓（IV）量測
• 以圖表方式呈現測試結果，同時附加標記和表格
• 您可將圖表匯出為影像檔，或將表格匯出為 csv 檔，以產生報告或進行後期處理
• 您可載入或儲存整個測試設定，以便進行重測並且檢視測試結果
• 可在展示模式下，預覽應用軟體的所有功能（無需取得軟體授權）

輕鬆控制電源供應器並簡化自動化作業

輕鬆控制電源供應器，以便設定參數，並在趨勢圖上查看 I/V 資料。

• 追蹤並記錄電源供應器的輸出，以了解特定活動對功耗的影響。
• 透過雲端連接並控制電源供應器。
• 快速將資料匯出到 MATLAB 和 Microsoft Excel 或 Word 等常用工具，以進行進一步分析。
• 購買新儀器即可訂閱 KeysightCare 軟體支援並獲得授權。

Keysight PW9252A PathWave 進階電源控制與分析軟體，可對 N6705C 直流電源分析儀、RP7900 系列再生式電源系統和 N7900 系列進階電源系統電源供應器中精密電源供應與量測功能進行無縫存取。此進階工具可對多個 N6705C、N7900、RP7900 系列或 E36150 系列裝置的電壓和電流進行精確控制與分析。PW9252A 可讓您執行以下操作：

• 同時控制多達 10 台儀器。根據購買的授權數量，每個授權連接一台儀器。
• 追蹤並記錄電源輸出，以評估活動對電力消耗的影響。
• 配置並分析具備三種模式的電源系統：
  • 示波器 (短期波形擷取)
  • 資料記錄器 (長期波形擷取)
  • 互補累積分佈函數（統計分析）
• 使用內建函數、匯入資料或自訂公式，建立複雜波形以激勵或負載待測裝置。
• 匯出資料以進行進一步的電力系統分析，並無縫傳輸至 PW9253A PathWave 進階電池測試與模擬軟體。

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PathWave 進階電源控制與分析軟體

PW9253A 是一款先進工具，採用基於獨特電池模型的模擬技術，旨在提供更高的準確度、可重複性和安全性。它可讓您分析裝置的功耗、模擬真實電池，並匯入現有電池模型進行測試。每個授權可連接一台儀器，同時支援多達 10 台儀器，實現可擴展的全面測試。

PW9253A 可讓您執行以下操作：

• 分析您的裝置如何消耗功率。
• 模擬實際電池效能和行為。
• 從 CSV 檔案匯入現有電池模型資料。
• 測試並模擬高達 200 kW 和 2 kV 的電池。
• 透過充電/放電循環建立電池特性檔，以建立獨特的電池模型。

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PathWave 進階電池測試與模擬軟體

• PathWave IV 曲線量測 — PW9251A
• PathWave 進階電源控制與分析 — PW9252A
• PathWave 進階電池測試與模擬 — PW9253A

此套件支援最多 10 台儀器同時運作，並提供電源控制分析和電池測試應用程式之間的即時資料共享。購買此套件可讓您執行以下操作：

• 在電源控制分析和電池測試應用程式之間即時共享資料。
  
• 將您的工具整合到一個整合式套件中，無需在應用程式之間切換。
• 最多可同時支援 10 台儀器進行全面測試。(根據購買的授權數量，每個授權可連接一台儀器)
• 擴展應用程式中可用的同步通道輸出數量。

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PathWave 進階電源應用套件組合

PX0109A 是一款基本且功能強大的軟體工具，用於控制 PXIe 精密 SMU，支援多種功能，例如掃描量測、取樣量測、圖形顯示功能，以及能夠將測試結果儲存為 CSV 檔案，這使得無需程式設計即可輕鬆快速地設定和執行 IV 量測，並以表格和圖形顯示量測資料。

• 支援 M9601A、M9602A、M9603A、M9614A 和 M9615A
• 最多支援 10 個通道
• 電流-電壓掃描量測
• 電流-電壓時域量測

軟體詳細資訊

適用於 PXIe 精密型 SMU 的快速 I/V 量測軟體下載

W7801B PathWave WaferPro WGFMU 量測軟體具備下列特性：

• 可與 WaferPro Express 量測平台無縫整合
• 進階資料顯示與分析功能，可針對偏壓電流進行雜訊資料比較和建模
• 可自動控制所有主要的晶圓探測系統
• 多種內建偏壓機制，可用於閃變雜訊特性分析
• 量測資料與是德科技元件建模軟體相容
• RTN 的 Ton 和 Toff 分析

W7801B PathWave WaferPro Express WGFMU 量測軟體套件，可與 B1500A 半導體元件分析儀和 B1530A 波形產生器/快速量測設備（WGFMU）搭配使用，以便有效地執行晶圓上自動化隨機電報雜訊（RTN）量測。 它還可增進 RTN 量測與資料分析（包括晶圓探測器控制）效率。

W7802B PathWave WaferPro A-LFNA 量測與程控軟體具備下列特性：

• 可與 PathWave WaferPro 量測平台無縫整合
• 進階資料顯示與分析功能，可針對偏壓電流進行雜訊資料比較和建模
• 可自動控制所有主要的晶圓探測系統
• A-LFNA 模組具有直流量測、1/f 雜訊、隨機電報雜訊（RTN）和資料分析功能
• 靈活的硬體平均功能，可兼顧傳輸速率與準確度
• 多種內建偏壓機制，可用於閃變雜訊特性分析
• 量測資料與是德科技元件建模軟體相容
• 引導式系統校驗程序
• 支援 PEL 和 Python 量測例行程式語言
• RTN 的 Ton 和 Toff 分析
  

進階低頻雜訊分析儀（A-LFNA）軟體和操作介面，建構於 PathWave WaferPro 量測平台之上。 工程師現在可透過靈活且可擴充的量測系統，管理並自動執行完整的晶圓級特性分析。 工程師可一如既往地使用 PathWave WaferPro 軟體，對高速直流、電容和射頻參數量測進行程控與排序，同時還可自動執行晶圓探測控制。 有了新推出的雜訊量測模組，現在他們可在測試套件中新增雜訊量測和分析功能。

Keysight A-LFNA 內建的量測程式提供統包式直流和雜訊量測功能。 舉例而言，如需量測 N 型 MOSFET 的雜訊，測試系統可自動選擇訊號源，接著載入可完整揭露元件固有雜訊的阻抗。 工程師可接受建議的設定，也可自行修改，然後開始進行量測。 接著 Keysight A-LFNA 便開始量測雜訊功率頻譜密度（1/f 雜訊）和時域（RTN）內的雜訊。 它還可透過「多圖」資料顯示視窗，將量測到的資料繪製成圖。 您可使用各種不同的視窗分頁（windows tab）加速處理一般任務，例如：評估元件的直流操作點、量測功率頻譜密度曲線的斜率。

簡化實驗室管理與教學

PathWave BenchVue 實驗室管理和控制解決方案是基於網路的應用軟體，可透過 LAN 或 WLAN 互連所有儀器。 它可為教育工作者提供集中控制功能，以便緊密連接並監視教學實驗室中的所有儀器。 藉由為您的測試儀器提供集中式實驗室配置、資產管理和大量韌體更新，您可真正彼此相連、連上實驗室、連上雲端，並獲得下一代創新技術。

• 根據您的實際實驗室佈局，設定和配置各種儀器，包括非是德科技儀器
• 輕鬆點擊即可對所有儀器進行大量的韌體更新

• 透過電子郵件通知追蹤資產及其校驗/租借期限，改善實驗室管理
• 控制並自動化多台儀器、記錄重要資料，並執行線上和線下資料分析