G800GE-02 OSFP800, QSFP-DD800 및 동축 모델

G800GE

800GE 및 400GE 계층 1 BERT, KP4 FEC 및 L2 Packet Blast 멀티포트 테스트 솔루션

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주요 특징

  • 키사이트의 KiOS 어플리케이션을 사용하여 800GE 및 400GE 광 트랜스시버, 활성 및 수동 구리 케이블, G800GE-02 800GE BERT, FEC, 패킷 블라스트 테스트 기능이 있는 실리콘 디바이스의 BER 성능 검증.
  • 1x800GE, 2x400GE, 4x200GE, 8x100GE, 8x100GE(ck) (106.25 Gb/s 호스트 전기 레인 기준) 및 1x400GE, 2x200GE, 4x100GE, 8x50GE 이더넷 속도(53.125Gb/s 호스트 전기 레인 기준) 지원으로 모든 레인 또는 포트의 모든 BERT, FEC 및 패킷 통계에 대한 시스템 보기인 KiOS 브라우저 기반 단일 페이지 어플리케이션(SPA)을 통한 신속한 문제 발견.
  • 몇 시간이 아닌 몇 분 이내 전체 회선 속도 BER, FEC 및 L2 패킷 성능 측정 — 키사이트의 개선된 BERT 옵션(BERT 추론 FEC)을 사용하여 모든 이더넷 속도에서 광 트랜스시버, 구리 상호연결 및 실리콘 디바이스 BER 동시 평가.
  • 키사이트의 KP4 FEC 기호 비트 오류 밀도 분포 분석으로 장기(정기 테스트) 및 스트레스 테스트 수행 — 시간 경과에 따라 발생하는 간헐적(bursty) 에러 포착 성능 우수.
  • 모든 G800GE-02를 키사이트의 M8040A 고성능 BERT 분석기 또는 Infiniium UXR‑시리즈 오실로스코프와 연결하여 IEEE802.3ck, OIF CEI-112G 또는 CEI-56 IA 사양에 대한 고급 FEC 인식 물리 계층 테스트 및 검증 가능.
  • G800GE-02 전기 동축 케이블 시스템으로 400GE 또는 800GE 모듈 컴플라이언스 보드나 디바이스 평가 및 개발 보드 연결.

세계 최초 회선 속도 2 x 800GE 테스트 시스템

키사이트의 G800GE-02 OSFP800 및 QSFP-DD800 400GE 및 800GE 테스트 시스템을 통해 800GE 및 400GE 전자 디바이스의 회선 속도 FEC 및 단순 계층 2 패킷 트래픽으로 비트 오류율(BER) 및 순방향 에러 수정(FEC) 기호 에러 수정 성능, 링크 신뢰성, 설계 유효성 검사 및 장기/단기 스트레스 테스트를 평가해야 하는 과제를 쉽고 경제적으로 수행할 수 있습니다. 개발 보드의 칩, 광 트랜스시버, 구리 케이블 또는 실리콘 디바이스를 검증하는 데 사용되는 G800GE-02는 106.25Gb/s 및 53.125Gb/s 전기 레인, 포트당 PAM4 시그널링을 지원하는 전용 BERT 및 FEC 테스트 시스템으로 문제를 몇 시간이 아닌 몇 분 내에 찾아낼 수 있습니다. 모든 레인과 포트의 BER, FEC 성능과 단순 패킷 처리를 실시간으로 한 번에 필요에 따라 시스템 수준 보기를 통해 확인할 수 있습니다.

G800GE 동축

전기 동축 커넥티비티를 사용한 보다 정확한 측정

G800GE-02 1-포트 광 트랜스시버와 1-포트 인터페이스 전기 Tx/Rx 동축 인터페이스 모델은 고유한 멀티포트 벤치탑 테스트 섀시입니다. 동축 인터페이스는 탑재된 광 포트의 모든 특징을 가진 우수한 전기 신호 매체입니다. 신호 손실을 최소화한 깨끗한 테스트 신호를 제공하므로 보다 정확한 측정값을 얻을 수 있습니다. 동축 인터페이스는 모듈 컴플라이언스 보드, 사용자 디바이스 평가 보드와 연결되며 G800GE의 BERT, FEC, 패킷 전송 및 분석 기능으로 테스트 대상 디바이스를 검증합니다.

고성능 BERT 분석기 동기화

G800GE-02 OSFP800 및 QSFP-DD800 섀시는 키사이트의 M8040A 고성능 BERT 분석기 또는 Infiniium UXR 오실로스코프와의 상호 연결 및 동기화를 지원하도록 현장에서 업그레이드할 수 있습니다. 결합 시스템은 106.25Gb/s 및 53.125Gb/s 전기 레인의 심벌 스트라이핑(symbol striped) FEC 인식 물리 계층 BER 테스터입니다. 채널의 물리 계층 채널 스트레스 및 장애를 수행하기 위한 800GE 및 400GE 특성화, 스트레스 및 적합성 테스트 솔루션입니다. 또한 실시간 오실로스코프, DCA, 용도에 따른 다른 장비 및 액세서리와 같은 다양한 키사이트 계층 1 장비와 함께 광 트랜스시버에 대해 TDECQ, 광 수신기 스트레스 테스트(ORST)와 같은 고급 테스트를 수행할 수 있습니다.

N4891A, 우측 전면 보기

100G 시리얼 FEC 인식 적합성 테스트 데모

100G 시리얼 인터페이스는 전송 비트당 비용과 전력이 적어 오늘날 400GE 및 800GE 포트의 증가하는 포트 밀도를 배치하는 데 있어 하이퍼스케일 데이터 센터의 필수 요소가 될 것입니다. 상호운용성과 적합성 테스트를 위해 현실적인 조건에서의 순방향 에러 수정 마진을 예측하려면 에러 버스트 메커니즘을 정량화하고 이해할 수 있는 역량이 필요합니다. 이 데모는 업계 최초의 100G 시리얼 인터페이스용 전기 레인 FEC 인식 수신기 적합성 테스트 솔루션인 키사이트 G800GE-02를 사용한 검증 방법을 보여줍니다.

Keysight 및 LuxshareTech 상호운용성 데모 - DesignCon 2022

데이터 센터 운영자(DCO)가 800GE를 통해 절전 효과를 얻을 수 있도록 스위칭 실리콘의 업그레이드 사이클을 가속화하며 물리적 상호 연결 링크가 106.25G PAM4 전기 시그널링으로 확장되어야 합니다. 이 경우 800GE 포트와 레인 상호 연결당 106.25G/s 등 모든 네트워크 지점을 테스트해야 하는 고유한 과제가 대두됩니다.

1x400GE 모드의 800GE 준비 테스트 협업에는 LuxshareTech 400GE QSFP112 DR4 광 트랜스시버를 사용하는 키사이트 G800GE-02 FEC 인식 및 컴플라이언스 테스트 시스템이 포함됩니다. 보다 빠른 플러그 방식 광학 모듈에 대한 요구가 명확한 만큼 키사이트는 OSFP, QSFP-DD 및 QSFP 폼팩터 등 고대역폭 상호 연결 구현을 검증하기 위해 800GE 에코시스템을 지원합니다. 동시에 LuxshareTech가 곧 저전력 전자장치를 지원하는 통합형 포토닉스 플랫폼을 기반으로 하는 800G/1.6T 광학 제품을 계속 제공할 것입니다.

LuxshareTech 광전자 BU의 GM인 Mike Gao는 "키사이트의 G800GE 테스트 시스템은 112G 전기 레인 상호연결 및 인프라에 대한 성능 및 검증 요구를 모두 충족합니다."라고 말합니다. "업계를 선도하는 LuxshareTech의 400GE QSFP112 DR4 광 트랜스시버를 출시하게 되어 매우 기쁘게 생각합니다. 이 제품은 실리콘 포토닉스 기술을 기반으로 하며 키사이트의 G800GE QSFP-DD800 BER, FEC 기호 에러 수정 FEC 인식 및 컴플라이언스 테스트 시스템을 사용하여 검증을 마쳤습니다.”

특집 리소스

고성능 800GE 디바이스와 네트워크를 구축할 수 있도록 도와드리겠습니다.