- 概要
- すべてのモデル
- サポート
密に配置された光チャネルを検証するためのサブピコメートル分解能
キーサイトのXP2-class波長計は、調整可能な送信機レーザーの校正のために、高密度波長分割多重（DWDM）信号の高速、高精度、およびトレーサブルな波長測定を提供します。高分解能と繰り返しレートを特長とする当社の波長計は、絶対波長精度が重要となるR&Dラボ、製造ライン、および校正環境の厳しい要求を満たすように設計されています。広い波長カバレッジとサブピコメートル分解能により、キーサイトの波長計は国際電気通信連合（ITU）グリッドへの準拠を保証し、ドリフト関連のエラーを最小限に抑え、チューニングおよび検証タスクを加速します。必要な波長範囲と絶対波長精度レベルに基づいて、必要な波長計を選択してください。当社の人気構成のいずれかを選択するか、お客様のアプリケーションに特化した構成を構築してください。
サブピコメートル精度
±0.2 ppmまでの絶対精度で超高精細な波長分解能を実現し、密接に配置されたITUチャネルの検証や高精細なスペクトルチューニングに最適です。
高速更新レート
リアルタイム波長表示と高速測定により、クローズドループレーザーチューニングと高スループットの製造ワークフローが可能になります。
広範囲な波長カバレッジ
C、L、Oバンドにわたる複数の光波長範囲をカバーし、光通信からフォトニクスまで多様なアプリケーションをサポートします。
トレーサブル校正
国際標準に準拠した工場校正済みで、長期安定性と低ドリフトにより、すべての波長測定において信頼性を提供します。
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Wavelength range
1270 nm to 1650 nm, 700 nm to 1650 nm
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Absolute wavelength accuracy
± 0.2 ppm ～ ± 1 ppm
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Measurement cycle time
0.3 s ～ 0.6 s
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Minimum resolvable line separation
5 GHz ～ 15 GHz
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最高パワー確度
± 0.5 dB ～ ± 0.6 dB
人気の構成
XP2-class 波長計、多波長対応
XP2-class 波長計、多波長対応
サービスとサポート
厳選されたサポートプランと、優先的な対応および迅速なターンアラウンドタイムにより、迅速なイノベーションを実現します。
予測可能なリースベースのサブスクリプションとフルライフサイクル管理ソリューションにより、ビジネス目標をより迅速に達成できます。
KeysightCareのサブスクライバーとして、コミットされた技術サポートなど、より質の高いサービスをご体験ください。
テストシステムが仕様どおりに動作し、ローカルおよびグローバルな標準に準拠していることを保証します。
社内での講師主導トレーニングやeラーニングにより、迅速に測定を実施できます。
キーサイトのソフトウェアをダウンロードするか、最新バージョンにアップデートしてください。
よくあるご質問
波長計は、レーザー光源または広帯域光エミッタの中心波長を測定するために使用される高精度光測定器です。入力された光信号を捕捉し、その干渉パターンを解析することで動作します。その後、この干渉パターンに基づいて波長を計算し、多くの場合、サブピコメートル単位の確度を実現します。一部の波長計は、パワー、波長ドリフト、モード安定性のリアルタイム測定も提供します。
これらのツールは、DWDM（高密度波長分割多重）システム、波長可変レーザー光源の校正、光コンポーネントの検証など、レーザー波長精度、スペクトル安定性、ITUグリッドアライメントが重要となるアプリケーションにおいて不可欠です。最新の波長計は通常、工場で校正されており、長期的な測定精度と信頼性を保証するために国際規格へのトレーサビリティを提供します。
波長計は、研究開発および製造環境の両方で、幅広い光学テストアプリケーションに使用されます。一般的な使用例は次のとおりです。
- 波長可変レーザー校正: テレコム、フォトニクス、または量子アプリケーション向けに、レーザー光源が正しい波長に調整されていることを確認します。
- DWDMチャネル検証: DWDMシステム内の各チャネルが標準化されたITU-Tグリッド間隔に準拠していることを、多くの場合サブピコメートル分解能で検証します。
- スペクトルチューニングと検証：テストおよびアライメント中に、光送信器、変調器、またはフォトニック集積回路 (PIC) の出力を測定および調整します。
- 長期波長安定性モニタリング: 計測ラボや量子実験など、継続的な性能が要求される環境で、時間経過に伴うレーザードリフトを追跡します。
これらの各ユースケースにおいて、波長計はスペクトル精度、システム準拠、およびデバイスの再現性を確保します。これらは高速光通信およびフォトニックシステムにとって不可欠です。
波長計を選択する際、最適な選択は、光源をどの程度正確かつ迅速に特性評価する必要があるかによって異なります。考慮すべき最も重要な仕様と、それぞれが光学テストおよび測定環境での性能にどのように影響するかを以下に示します。
- 波長範囲: メータが、お客様のレーザーまたは光ソースが動作するスペクトル帯域をサポートしていることを確認してください。通信およびデータ通信のテストでは、Cバンド（1530～1565 nm）、Lバンド（1565～1625 nm）、または全1260～1650 nmの範囲をカバーしているかを確認してください。他の領域で作業している場合は、その波長がモデルに含まれていることを確認してください。正しい範囲を選択することで、光源との完全な互換性が確保され、信号のクリッピングや未検出のドリフトが回避されます。
- 波長精度: 高密度WDMシステム、狭線幅レーザー、またはITUグリッド準拠を必要とするアプリケーションでは、高精度が不可欠です。精度が高いほど、アライメント、チューニング精度、およびシステムの長期信頼性が向上します。
- 測定サイクル時間: 測定速度または更新レートとも呼ばれ、機器が新しい波長測定値を提供する速さを決定します。動的なテスト環境や自動化された生産ラインにおいて、サイクルタイムが速いほど、ワークフローを遅らせることなく、リアルタイムチューニング、レーザーロック、またはインプロセスでの合否判定が可能になります。
- 分解可能な線間隔: これは、機器が密接に隣接する2つのスペクトル線を区別する能力を定義します。分解可能な線間隔が細かい波長計は、密接に隣接するDWDMチャネルを区別したり、多線レーザー光源における複数のモードを検出したりできます。これは、スペクトル純度分析や変調信号の検証にとって特に重要です。
- パワー精度: 多くの波長計は絶対光パワーも報告します。これにより、特に波長とパワーのデータをフィードバック制御ループに統合する場合に、意味のあるパワー測定値が保証されます。
- 校正のトレーサビリティ: コンプライアンス、トレーサビリティ、または長期的な測定の信頼性を必要とするあらゆるアプリケーションにおいて、NISTなどの国際標準にトレーサブルな工場校正済みのメーターを選択することが不可欠です。トレーサブルな校正は、品質保証、規制監査、およびチームやラボ間での測定の再現性をサポートします。
これらの主要な仕様を評価することで、テレコムシステムインテグレーション、波長可変レーザー開発、量子光学、またはフォトニックコンポーネントの生産テストのいずれに従事している場合でも、光テスト要件に正確に合致する波長計を選択できます。