回路内テスター
+ インサーキットテスター

ソースメジャーユニットのインサーキットテスターへの統合

プリント基板アセンブリ(PCBA)で低電流測定を行うには、デジタルマルチメータ(DMM)やソース・メジャー・ユニット(SMU)のような高精度な低電流測定器が必要です。これらの計測器は、高分解能と効果的なノイズフィルタリングにより、電圧と電流を同時に測定する必要があります。しかし、インサーキットテスト段階で低リーク電流テストを実施するには、インサーキットテスター(ICT)にSMUを統合することが、精度向上に不可欠です。

ICTにSMUを統合するには、インターフェースを確立し、テスターを被試験デバイスの特定のノードに接続する必要があります。その結果、SMUの設定には、出力電圧、電流パラメータ、および目的の測定レンジの設定が含まれます。テストエンジニアは、ハードウェアとソフトウェアの両方のテスト自動化のためのテスト計画も必要とします。各タイプのボードに対して新しいテスト計画を作成することで、正確なテストが保証されます。

ソリューション低電流テストソリューション

ICTシステムにおける低電流測定には、ソース・メジャー・ユニットの統合が必要です。キーサイトのICT低電流テストシステムは、OpenTapプラグインとデュアルチャネルのキーサイトB2912Cプレシジョンソース/メジャーユニットにより、このプロセスを簡素化します。OpenTapプラグインは、提供されたボードファイルとパラメータを使用してテスト生成を4つのステップで自動化し、必要なすべての計算を管理し、結果を直接表示します。ICTテスターを介してSMUを統合することで、手動入力を削減し、効率を向上させます。キーサイトi3070 7iはこれらの進歩を取り入れ、低電流テストのための合理化された柔軟なソリューションを提供します。

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