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デバイスモデリング IC-CAPソフトウェアは、DC/RF半導体デバイスモデリングの業界標準です。 IC-CAP(Integrated Circuit Characterization & Analysis Program)は、高速／デジタル、アナログ、パワーRFアプリケーションで使用されている正確でコンパクトなモデルを抽出します。 今日の最先端の半導体ファウンドリやIDMは、シリコンCMOS、バイポーラ、ガリウムヒ素化合物(GaAs)、窒化ガリウム(GaN)などの多くのICデバイステクノロジーのモデリングをIC-CAPに依存しています。 IC-CAPは、カスタマイズ可能な最先端のモデリングソフトウェアで、測定／シミュレーション／最適化／統計解析ツールを備えています。
- オープンなモデリング・ソフトウェア・アーキテクチャにより、最高の確度を実現し、測定／抽出／検証手順の非常に柔軟な作成／自動化が可能
- BSIM3/BSIM4、PSP、HiSIMなどの業界標準のCMOSモデル用のターンキー抽出ソリューションにより、習得時間を短縮、モデルの確度を最大化
- 商用シミュレータへのダイレクトリンクにより、抽出モデルと回路デザイナが使用したシミュレータとの一貫性を確保
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All the tools and examples needed to characterize and model semiconductor devices. Includes the software environment, all measurement drivers, optimization, Python/PEL programming and all simulation links.
WaferPro for automated wafer-level measurement. All measurement drivers are included. Python/PEL programming enables custom measurement algorithms and drivers.
Measure and accurately model any GaN RF device with the physics-based industry-standard ASM-HEMT and the MVSG models, or use the established Angelov-GaN model.
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