Choose a country or area to see content specific to your location
何をお探しですか?
3D Interconnect Designerは、チップレット、積層ダイ、パッケージ、PCBなど、あらゆる高度な相互接続構造に対応する柔軟なモデリングおよび最適化環境を提供します。
25種類以上のXシリーズアプリケーションを使用して、ワイヤレス、航空宇宙/防衛、EMI、位相ノイズの各分野で信号の解析、復調、トラブルシューティングを行います。
追加のメモリとストレージにより、これらの強化されたNPBは、キーサイトのAIセキュリティおよびパフォーマンス監視ソフトウェアとAIスタックを実行します。
キーサイト Learnは、ソリューション、ブログ、イベントなど、関心のあるトピックに関する様々なコンテンツを提供しています。
頻繁にお問い合わせされるサポート関連のお役に立つ情報すばやくアクセス
お持ちの製品をサポートするための追加情報
高密度PCBアセンブリ向けの、スケーラブルで効率的な検証ソリューション
複雑なボードアセンブリ向けの拡張性と柔軟性に優れたテスト
ピンレベルの精度による効率的な障害分離
信頼性の高い生産結果のための統合ファンクションテストシステム
高密度基板向け精密障害検出
キーサイトの並列テストシステムは、多様な製造テスト要件に対応する汎用性と拡張性を備えたソリューションを提供します。Advanced 、内蔵のアナログ、デジタル、境界スキャン機能を備えた混合信号PCBテスト向けのコンパクトでコスト効率の高いプラットフォームです。テスト開発と統合を簡素化し、リーン生産環境に最適です。Expert 、数千の同時テストチャネル、モジュラー 、回路内テスト・境界スキャン・機能テストを含む包括的なカバレッジにより、要求の厳しいアプリケーション向けに比類のないスループットを実現します。このシステムは多品種少量生産と大量生産の両方で優れた性能を発揮し、迅速な診断とシームレスな自動化統合を提供します。アドバンストからエキスパートまでの幅広い並列テストシステムを比較検討し、お客様のアプリケーションに最適なシステムをお選びください。選択にお困りですか?以下のリソースをご確認ください。
Starting from
Starting from
キーサイトのバウンダリ・スキャン・アナライザは、高密度ボード向けに高度なデジタル・テスト機能を提供し、物理的なプローブアクセスを必要とせずに正確な故障分離を可能にします。このシステムは効率的な構造テスト向けに設計されており、複雑なデジタルアセンブリにおける相互接続、短絡、開放、スタックアット故障の迅速な診断を提供します。インサーキットおよびファンクション・テスト・システムへのシームレスな統合により、バウンダリ・スキャンはJTAGベースのスキャンチェーンをサポートします。これにより、アクセスしにくいネットへのアクセスが可能になり、テスト開発時間を短縮し、カバレッジを向上させます。お客様のアプリケーションに最適なバウンダリ・スキャンを見つけるために、当社の製品をご覧ください。選定にお困りですか?以下のリソースをご確認ください。
キーサイトのファンクションテストシステムは、複雑な電子アセンブリの試験モジュラー柔軟なソリューションを提供します。精密測定、高密度スイッチング、構成可能な電力供給、同期信号取得により、幅広いアナログ、デジタル、ミックスドシグナルアプリケーションをサポートします。組み込みの自動化とリアルタイム監視streamlineテスト開発とカバレッジを向上させるため、自動車用ECU、産業用コントローラ、組込みボードなどのデバイス検証に最適です。 幅広いファンクションテストシステムの中から、お客様のアプリケーションに最適なシステムをお探しください。選択にお困りですか?以下のリソースをご確認ください。
キーサイトのインサーキット・テスト・システムは、大量生産における複雑で高密度なプリント基板のテスト向けに、高性能でスケーラブルなソリューションを提供します。柔軟なピン構成、バウンダリ・スキャン・サポート、ベクタレス・テスト機能、およびプログラマブルなアナログ測定により、これらのシステムは、はんだ欠陥、誤配置コンポーネント、誤った値などのアセンブリ故障を迅速かつ正確に検出します。内蔵診断機能、直感的なテスト開発ツール、および自動化対応の統合により、誤検出を減らし、初回パス歩留まりを向上させながら、生産ワークフローを合理化します。お客様のアプリケーションに最適なインサーキット・テスト・システムを見つけるために、当社の幅広い製品をご覧ください。選定にお困りですか?以下のリソースをご確認ください。
キーサイトの並列テストシステムは、多様な製造テスト要件に対応する汎用性と拡張性を備えたソリューションを提供します。Advanced 、内蔵のアナログ、デジタル、境界スキャン機能を備えた混合信号PCBテスト向けのコンパクトでコスト効率の高いプラットフォームです。テスト開発と統合を簡素化し、リーン生産環境に最適です。Expert 、数千の同時テストチャネル、モジュラー 、回路内テスト・境界スキャン・機能テストを含む包括的なカバレッジにより、要求の厳しいアプリケーション向けに比類のないスループットを実現します。このシステムは多品種少量生産と大量生産の両方で優れた性能を発揮し、迅速な診断とシームレスな自動化統合を提供します。アドバンストからエキスパートまでの幅広い並列テストシステムを比較検討し、お客様のアプリケーションに最適なシステムをお選びください。選択にお困りですか?以下のリソースをご確認ください。
Starting from
Starting from
キーサイトのバウンダリ・スキャン・アナライザは、高密度ボード向けに高度なデジタル・テスト機能を提供し、物理的なプローブアクセスを必要とせずに正確な故障分離を可能にします。このシステムは効率的な構造テスト向けに設計されており、複雑なデジタルアセンブリにおける相互接続、短絡、開放、スタックアット故障の迅速な診断を提供します。インサーキットおよびファンクション・テスト・システムへのシームレスな統合により、バウンダリ・スキャンはJTAGベースのスキャンチェーンをサポートします。これにより、アクセスしにくいネットへのアクセスが可能になり、テスト開発時間を短縮し、カバレッジを向上させます。お客様のアプリケーションに最適なバウンダリ・スキャンを見つけるために、当社の製品をご覧ください。選定にお困りですか?以下のリソースをご確認ください。
キーサイトのファンクションテストシステムは、複雑な電子アセンブリの試験モジュラー柔軟なソリューションを提供します。精密測定、高密度スイッチング、構成可能な電力供給、同期信号取得により、幅広いアナログ、デジタル、ミックスドシグナルアプリケーションをサポートします。組み込みの自動化とリアルタイム監視streamlineテスト開発とカバレッジを向上させるため、自動車用ECU、産業用コントローラ、組込みボードなどのデバイス検証に最適です。 幅広いファンクションテストシステムの中から、お客様のアプリケーションに最適なシステムをお探しください。選択にお困りですか?以下のリソースをご確認ください。
キーサイトのインサーキット・テスト・システムは、大量生産における複雑で高密度なプリント基板のテスト向けに、高性能でスケーラブルなソリューションを提供します。柔軟なピン構成、バウンダリ・スキャン・サポート、ベクタレス・テスト機能、およびプログラマブルなアナログ測定により、これらのシステムは、はんだ欠陥、誤配置コンポーネント、誤った値などのアセンブリ故障を迅速かつ正確に検出します。内蔵診断機能、直感的なテスト開発ツール、および自動化対応の統合により、誤検出を減らし、初回パス歩留まりを向上させながら、生産ワークフローを合理化します。お客様のアプリケーションに最適なインサーキット・テスト・システムを見つけるために、当社の幅広い製品をご覧ください。選定にお困りですか?以下のリソースをご確認ください。
車載エレクトロニクスは、信頼性と安全性を確保するために、高精度かつ包括的なテストを必要とします。キーサイトのインサーキットテストシステムは、低電流測定、スーパーキャパシタテスト、LED診断、高速ショート検出などの主要な機能を備えており、ECU、エンジンコントローラ、センサーボードなどのモジュールに最適です。高スループットソリューションは、小型ボードを効率的に並列テストし、バウンダリスキャンツールはアクセスできないノードのカバレッジを向上させます。これらのツールを組み合わせることで、高複雑度および低複雑度の車載エレクトロニクス全体で性能と品質を保証します。
製造
ソースメジャーユニットをインサーキットテスターに統合する。
製造
インサーキットテスターとIPC-CFXは、インダストリー4.0ファクトリーを実現します。
製造
ショートテストのテスト時間を改善するために、強化されたショートテストアルゴリズムをインサーキットテストシステムに実装します。
厳選されたサポートプランと、優先的な対応および迅速なターンアラウンドタイムにより、迅速なイノベーションを実現します。
予測可能なリースベースのサブスクリプションとフルライフサイクル管理ソリューションにより、ビジネス目標をより迅速に達成できます。
KeysightCareのサブスクライバーとして、コミットされた技術サポートなど、より質の高いサービスをご体験ください。
テストシステムが仕様どおりに動作し、ローカルおよびグローバルな標準に準拠していることを保証します。
社内での講師主導トレーニングやeラーニングにより、迅速に測定を実施できます。
キーサイトのソフトウェアをダウンロードするか、最新バージョンにアップデートしてください。
PCBの密度、生産量、およびテストカバレッジの要件に基づいてICTシステムを選択してください。以下の点を考慮してください:
システム対応範囲: キーサイト・テクノロジーズのICTシステムは、高密度PCB、微細ピッチ部品、および複雑な多層基板に対応しています。
スケジュール策定の戦略:処理能力に応じたスケジュールのコスト、拡張性、および持続性を評価する。
ソフトウェアおよび分析: キーサイト・テクノロジーズのソフトウェアは、診断、歩留まりの向上、そして世界中で導入されているスマートファクトリーとの連携を実現します。
製造上の適合性:北米、欧州、アジアに導入されている生産ラインとの互換性を確保する。
現代の課題:ICTにおいては、カバレッジの不足や高度なパッケージに対応するため、補完的なテスト(AOIや機能テストなど)が必要となる場合がある。
技術仕様をPCBの複雑さと生産目標に合わせて、ICTシステムを選択してください。主な考慮事項は以下の通りです:
ピン数/ノード容量: キーサイト・テクノロジーズのICTシステムは、高密度基板に対応するため、数百から数千のテストノード(例:最大約5760ノード)まで拡張可能です。
テストカバレッジ:高い故障カバレッジ(短絡、断線、部品値)を確保し、アクセスできないノードに対してはバウンダリスキャンまたはベクタレス・テストに対応すること。
テスト速度/スループット:高速パラメトリックテストと並列測定により、大量生産におけるサイクルタイムが短縮されます。
自動化と統合: キーサイト・テクノロジーズのシステムは、世界中の工場における自動化ラインやインダストリー4.0の分析機能と統合されています。
治具の適合性:ベッド・オブ・ネイルズ治具は、PCBの設計、アクセス性、およびコストの制約に適合していなければならない。
現代的な視点:ICTとAOIまたは機能テストを組み合わせることで、検査範囲の死角や複雑なパッケージへの対応を図る。
キーサイト・テクノロジーズのソリューションを含むインサーキット・テスト(ICT)は、部品レベルで多くの製造上の欠陥を検出します。主な機能は以下の通りです:
検出可能な欠陥:
ショート、断線、および部品の欠落
コンポーネントの値(R、L、C)が間違っている
極性・向きに関する問題(ダイオード、コンデンサ、IC)
半導体の基本的な故障
制約/現代の課題:
高密度またはファインピッチのPCBでは、アクセスが制限されます
BGA、積層パッケージ、およびRF回路の対応範囲が縮小されました
補完的な手法:
はんだ接合部および隠れた接合部用のAOI/AXI
システムレベルの検証のための機能テスト
アクセス不能なノードに対するバウンダリスキャン
キーサイト・テクノロジーズのICTシステムは、世界中の製造工場に広く導入されており、多くの場合、これらの手法と組み合わせて、網羅的なカバーを実現しています。
「ベッド・オブ・ネイルズ」と「フライング・プローブ」は、世界中の製造現場で採用されている2つのICT手法です。キーサイト・テクノロジーズは、ICTシステム、治具、ソフトウェアを通じて、これら両方の手法をサポートしています。
「釘のベッド」ICT:
すべてのテストポイントに同時に接触するスプリングピンを備えた専用治具を使用します
高速・広範囲対応、大量生産に最適
初期の設備費用が高くなる
フライングプローブICT:
可動式プローブを使用するため、治具は不要です
低コストで、試作や小ロット生産に柔軟に対応
テスト速度の低下とスループットの低下
使用タイミング:
釘ベッド:安定した設計、量産(北米、欧州、アジアの工場)
フライングプローブ:新製品導入(NPI)、頻繁な設計変更
現代的な観点:
複雑なPCBでは、完全な検査範囲を確保するために、AOIや機能試験を併用する必要がある場合があります
インサーキット・テスト(ICT)は、データ駆動型の自動化製造を実現することで、インダストリー4.0と連携します。キーサイト・テクノロジーズのICTシステム、フィクスチャ、およびソフトウェアは、世界中で利用されているスマートファクトリー環境向けに設計されています。
自動化の統合:
SMTライン、ハンドラー、およびMESシステムとのシームレスな連携
北米、欧州、アジアにおける無人製造に対応しています
データと分析:
キーサイト・テクノロジーズのソフトウェアは、リアルタイム診断、歩留まり分析、およびトレーサビリティを提供します
予知保全とプロセスの最適化を実現します
接続性:
IIoT、クラウド、および工場ネットワーク向けの標準インターフェース
現代の課題:
複雑なプリント基板では、ICTとAOI、AXI、および機能テストを組み合わせる必要があります
システム間のデータ統合は、その価値を最大限に引き出すために依然として不可欠である
ICTにおけるテストカバレッジ、フィクスチャの設計、およびコストは、PCBの設計および製造要件によって左右されます。キーサイト・テクノロジーズのICTシステム、フィクスチャ、およびソフトウェアは、世界中の製造現場において、これらのトレードオフの最適化を支援します。
PCB設計とアクセシビリティ:
テストポイントの密度、パッドのサイズ、および部品の間隔は、達成可能なカバレッジに影響を与えます。
試合日程の複雑さ:
釘床式治具は、加工範囲と加工速度を向上させる一方で、初期費用とメンテナンスコストが増加する。
適用要件:
(アナログ、デジタル、RF)の故障カバレッジを高めるには、キーサイト・テクノロジーズのシステムによる高度な機能が必要となる場合があります。
生産量:
生産量が多い場合は治具への投資が正当化されるが、生産量が少ない場合は柔軟なアプローチが適している。
現代の課題:
高密度PCBやBGAはアクセス性を低下させるため、バウンダリスキャンや機能テストによる補完が必要となる。