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マルチレートテストシステム800GEインターコネクト検証用の多彩なFECおよびBERTテストプラットフォーム

モデル: 941-0080

A400GE-QDD 2ポートレイヤ1 BERT QSFP-DDテストシステム

キーサイト A400GE-QDD、2ポート、400GE/200GE/100GE/50GE レイヤ1 BERT QSFP-QDD テストシステムは、最新バージョンのKiOSソフトウェアを搭載した固定シャーシを含みます。

キーサイト A400GE-QDD 2ポートテストシステムは、KiOSブラウザベースのシングルページアプリケーションを使用して、高ポート数デバイスのビットエラーレート（BER）性能を検証できます。このテストシステムを使用すると、以下のことも実行できます。

KiOSで問題を迅速に特定します。このアプリケーションは、すべてのレーンにわたるビットエラーレートテスト (BERT) および前方誤り訂正 (FEC) 統計のシステム全体ビューを提供します。1 x 400GE、2 x 200GE、4 x 100GE、および8 x 50GEの速度をサポートします。
BERおよびFEC性能を数時間ではなく数分で測定します。拡張BERTオプションを使用して、すべてのイーサネット速度で新しい光トランシーバーと銅ケーブル・インターコネクトを同時に評価します。
キーサイトのKP4 FECシンボルビットエラー分布解析を使用して、合否判定テストレポートを簡単に生成し、長時間 (時間指定) およびストレステストを実施することで、時間経過に伴うバーストエラーや熱エラーを検出できます。
オプションのホストおよびモジュール・コンプライアンス・ボード、ケーブル、およびアダプタバンドルを使用して、A400GE-QDDとキーサイトM8040A BERTアナライザ、および開発ボードとの接続を簡素化します。
2世代にわたる400GE QSFP-DDテストシステムに基づいて構築された、実績のあるテクノロジーを活用します。