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A400GE-QDD 2포트 레이어 1 BERT QSFP-DD 테스트 시스템

키사이트 A400GE-QDD, 2포트, 400GE/200GE/100GE/50GE 레이어 1 BERT QSFP-QDD 테스트 시스템은 최신 버전의 KiOS 소프트웨어가 탑재된 고정형 섀시를 포함합니다.

제품 이미지

  • 인터페이스

    QSFP-DD

  • Interface speed modes

    400G

  • Protocol support

    Ethernet

  • Ports

    2

견적 준비 완료

포함된 내용과 키사이트의 사용 가능한 업그레이드 옵션을 확인하십시오.

하이라이트

키사이트 A400GE-QDD 2포트 테스트 시스템은 KiOS 브라우저 기반 단일 페이지 애플리케이션을 사용하여 고포트 수 디바이스의 비트 오류율(BER) 성능을 검증할 수 있도록 합니다. 이 테스트 시스템을 사용하여 다음 작업도 수행할 수 있습니다.
  • KiOS를 통해 문제를 신속하게 식별하십시오. 이 애플리케이션은 모든 레인에서 비트 오류율 테스트(BERT) 및 순방향 오류 정정(FEC) 통계에 대한 시스템 전반의 보기를 제공합니다. 1 x 400GE, 2 x 200GE, 4 x 100GE, 8 x 50GE 속도를 지원합니다.
  • 몇 시간 대신 몇 분 만에 BER 및 FEC 성능을 측정하십시오. 향상된 BERT 옵션을 사용하여 모든 이더넷 속도에서 새로운 광 트랜시버 및 구리 케이블 인터커넥트를 동시에 평가하십시오.
  • 키사이트 KP4 FEC 심볼 비트 오류 분포 분석을 사용하여 합격/불합격 테스트 보고서를 쉽게 생성하고 장시간(시간 지정) 및 스트레스 테스트를 수행하여 시간 경과에 따른 버스티 오류 및 열 오류를 감지하십시오.
  • 옵션 호스트 및 모듈 컴플라이언스 보드, 케이블 및 어댑터 번들을 사용하여 A400GE-QDD와 키사이트 M8040A BERT 분석기, 그리고 개발 보드 간의 연결을 간소화하십시오.
  • 두 세대에 걸친 400GE QSFP-DD 테스트 시스템을 기반으로 구축된 현장 검증된 기술을 활용하십시오.

서비스 및 지원