Système de test QSFP-DD BERT de couche 1 à 2 ports A400GE-QDD

Le système de test Keysight A400GE-QDD, 2 ports, 400GE / 200GE / 100GE / 50GE Layer 1 BERT QSFP-QDD comprend un châssis fixe contenant la dernière version du logiciel KiOS.

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  • Interface

    QSFP-DD

  • Interface speed modes

    400G

  • Protocol support

    Ethernet

  • Ports

    2

Prêt pour un devis

Découvrez ce qui est inclus et explorez les options de mise à niveau disponibles auprès de Keysight.

Points forts

Le système de test à deux ports Keysight A400GE-QDD vous permet de valider les performances en termes de taux d'erreur binaire (BER) des appareils à nombre élevé de ports à l'aide de l'application monopage KiOS basée sur un navigateur. Grâce à ce système de test, vous pouvez également effectuer les opérations suivantes :
  • Identifiez rapidement les problèmes grâce à KiOS. L'application offre une vue globale du système sur les statistiques relatives aux tests de taux d'erreur binaire (BERT) et à la correction d'erreurs sans voie de retour (FEC) sur toutes les voies. Elle prend en charge les vitesses 1 x 400GE, 2 x 200GE, 4 x 100GE et 8 x 50GE.
  • Mesurez les performances BER et FEC en quelques minutes au lieu de plusieurs heures. Évaluez simultanément les nouveaux émetteurs-récepteurs optiques et les interconnexions par câble cuivre à toutes les vitesses Ethernet à l'aide de l'option Enhanced BERT.
  • Générez facilement des rapports de test de réussite/échec et effectuez des tests de longue durée (chronométrés) et de résistance à l'aide de l'analyse de distribution des erreurs de bits de symbole FEC Keysight KP4 afin de détecter les erreurs thermiques et les rafales au fil du temps.
  • Simplifiez les connexions entre l'A400GE-QDD et l'analyseur BERT Keysight M8040A, ainsi que vos cartes de développement, à l'aide de cartes de conformité hôte et module, de câbles et d'ensembles d'adaptateurs en option.
  • Tirez parti d'une technologie éprouvée sur le terrain, issue de deux générations de systèmes de test 400GE QSFP-DD.