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インライン高密度ICTシステム; Series 7i

キーサイト E9988GL i3070 シリーズ 7i インライン高密度回路内試験（ICT）システムは、ICT技術を自動化製造ラインに導入します。

製品画像

  • Fixture actuation

    Press down

  • 最大ノード・カウント

    5760

  • System width

    800 mm

  • Maximum parallel testing

    2

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ハイライト

キーサイト i3070シリーズ 7iインラインテストシステムのご紹介 — 優れたテストカバレッジとスループット向上への道。

最新のクワッド密度ピンカードを搭載したシリーズ7iは、スリムな800mm幅のフットプリントを維持しながら、最大5760個のテストノードに対応できます。この容量の増加により、複雑なテスト要件に対してより多くのリソースが提供され、ボードのハンドリングと転送時間を節約しながら、より大きなパネルを処理できるようになります。

Series 7iは現在のE9988EおよびE9988ELテストプログラムおよびフィクスチャとの完全な後方互換性を保証するため、お客様の投資が安全であることをご安心ください。

  • テストノードを2倍に: コンパクトな設置面積を維持しながら、最大2倍のテストノードに対応します。
  • スーパーキャパシタテストを統合: 利用可能な統合ソリューションを通じて、最大100ファラッド (F) のスーパーキャパシタを容易にテストします。
  • 低電流測定を可能に： 100ナノアンペア (nA) という低電流測定を実現し、開発時間を短縮します。
  • 短絡テストを高速化: 従来の方式と比較して、拡張短絡テストアルゴリズムを50%高速に実行します。
  • カバレッジを強化: 自動クラスタテスト生成によりカバレッジを向上させます。
  • 拡張を容易にします: テスト機能を拡張するための内蔵機能ポートを提供します。
  • アクセス制限を克服: x1149バウンダリスキャンアナライザを統合し、制限されたテストアクセスを克服します。

キーサイトのICTシステムに関する詳細情報については、www.keysight.com/find/ictをご覧ください。

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