オンデマンド
半導体デバイスの複雑化が進む中、エンジニアリングチームは、測定精度、製品品質、信頼性を維持しながら開発期間を短縮するという、かつてないプレッシャーに直面しています。
本テクニカルウェビナーでは、キーサイト・テクノロジーとともに、統合されたワークフローを活用してIC設計からウェーハレベルの特性評価、最終的な機能テストに至るまで半導体のイノベーションを加速する方法について解説します。実際のデモを通じて、シミュレーションとシリコンの相関関係の向上、検証の効率化、測定の自動化、そして開発ライフサイクル全体を通じた信頼性の向上を実現する方法を学ぶことができます。
RF回路の設計、オンウェーハでのデバイス特性評価、高度なフォトニック集積回路の検証のいずれを手がける場合でも、次世代半導体製品の市場投入を迅速化するための実践的なアプローチを見出すことができます。
このウェビナーは、半導体の設計、検証、テストエンジニア、ならびにRF、マイクロ波、フォトニクス、光テストエンジニアを対象に設計されています。また、R&Dエンジニア、エンジニアリングマネージャー、半導体開発、デバイス特性評価、量産テストに携わるすべての方々にも有益な内容となっています。
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