Webinar
October 4, 2023
Datum
10:00 - 12:30 UHR PT
Zeit
2 Stunden
Dauer
Virtuell
Standort
Da Halbleiterbauelemente immer komplexer werden, stehen die Entwicklungsteams unter zunehmendem Druck, die Entwicklungszeit zu verkürzen und gleichzeitig Messgenauigkeit, Produktqualität und Zuverlässigkeit aufrechtzuerhalten.
Nehmen Sie an diesem technischen Webinar von Keysight Technologies teil und erfahren Sie, wie integrierte Arbeitsabläufe die Halbleiterinnovation vom IC-Design über die Wafer-Level-Charakterisierung bis hin zum finalen Funktionstest beschleunigen können. Anhand praxisnaher Demonstrationen lernen Sie, wie Ingenieure die Korrelation zwischen Simulation und Silizium verbessern, die Validierung optimieren, Messungen automatisieren und im gesamten Entwicklungszyklus mehr Sicherheit gewinnen können.
Ob Sie HF-Schaltungen entwerfen, Bauelemente auf Wafer charakterisieren oder fortschrittliche photonische integrierte Schaltungen validieren – entdecken Sie praktische Ansätze, die dazu beitragen, Halbleiterprodukte der nächsten Generation schneller auf den Markt zu bringen.
Dieses Webinar richtet sich an Ingenieure in den Bereichen Halbleiterdesign, -validierung und -prüfung sowie an Testingenieure in den Bereichen Hochfrequenztechnik, Mikrowellentechnik, Photonik und Optik. Es ist außerdem wertvoll für F&E-Ingenieure, Entwicklungsleiter und alle, die an der Halbleiterentwicklung, der Gerätecharakterisierung oder der Produktionsprüfung beteiligt sind.
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