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This application note describes how to evaluate MEMS elements in the on-wafer stage in order to lower the total production cost in mass production.
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業種* -- 選んでください -- 5G / ワイヤレス 航空宇宙防衛 自動車 + エネルギー コンシューマーエレクトロニクス／IoT データセンターインフラストラクチャー 教育・研究機関 電子機器製造 エンタープライズIT 半導体 サービスプロバイダー／ネットワークオペレーター コンサルタント 必須項目です。
役職* 必須項目です。
職責* -- 選んでください -- ハードウェア設計 ソフトウェア設計 製品設計 製造 テストエンジニアリング 生産管理 調達 研究 研究管理 ネットワークアーキテクチャー ネットワークオペレーション エンジニア以外 学生 必須項目です。
電話番号* 必須項目です。
製品またはソリューションの関心* -- 選んでください -- RFテスト オシロスコープ & ビット・エラー・レシオ・テスト(BERT) AC / DC電源および電子負荷 デジタルマルチメータ(DMM)、データ収集(DAQ)、AWG任意波形発生器、アクセサリ 設計 + テストソフトウェア 研究／製造管理 ネットワーク／セキュリティー・トラフィック・ジェネレータ ネットワーク／セキュリティーオペレーション 必須項目です。
製品タイプ* 必須項目です。
フォームファクタ* -- 選んでください -- ベンチトップ型 モジュール型 ハンドヘルド型 ポータブル型 必須項目です。
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