Webinar

On‑wafer sub‑THz NF measurements

eventos sem fio-celular Instrumentos de teste de RF Fabricação de circuitos integrados e semicondutores

October 4, 2023

Data

10:00AM - 12:30 PM PT

Hora

2 horas

Duração

Virtual

Localização

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Sobre este evento

À medida que as aplicações de 6G, radares de alta resolução e sensores integrados avançam para a faixa de frequência sub-THz, a caracterização precisa do fator de ruído (NF) diretamente no wafer torna-se cada vez mais essencial. 

 

Este webinar explora o método NF de fonte fria como uma abordagem prática para medições acima de 100 GHz, abordando princípios de medição, técnicas de calibração, considerações sobre incerteza e melhores práticas para obter resultados repetíveis e rastreáveis sem fontes de ruído de alto ENR

Quem deve participar desse evento?

Engenheiros de testes de RF, engenheiros de testes de produção

October 4, 2023

Data

10:00AM PT

Hora

90

Duração

Virtual

Localização

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