웨비나

On‑wafer sub‑THz NF measurements

이벤트 무선 셀룰러 RF 테스트 계측기 IC_반도체_제조

October 4, 2023

날짜

오전 10:00 - 오후 12:30 PT

시간

2시간

지속

온라인

장소

지금 등록하기

이벤트 관련 정보

6G, 고해상도 레이더, 통합 센싱 애플리케이션이 서브 테라헤르츠(sub-THz) 주파수 대역으로 진입함에 따라 정확한 온웨이퍼 잡음 지수(NF) 특성화가 점점 더 중요해지고 있습니다. 

 

이 웨비나에서는 100 GHz를 초과하는 측정에 대한 실용적인 접근 방식으로 콜드 소스 NF(cold-source noise figure) 방법을 살펴보고, 높은 ENR 노이즈 소스 없이 반복 가능하고 추적 가능한 결과를 달성하기 위한 측정 원리, 캘리브레이션 기술, 불확도 고려 사항 및 모범 사례를 다룹니다.

누가 이 이벤트에 참여해야 하나요?

RF 테스트 엔지니어, 생산 테스트 엔지니어

October 4, 2023

날짜

오전 10:00 PT

시간

90

지속

온라인

장소

지금 등록하기