Webinar

On‑wafer sub‑THz NF measurements

October 4, 2023

Data

10:00-12:30 PT

Tempo

2 ore

Durata

Virtuale

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Informazioni su questo evento

Con l'affermarsi delle tecnologie 6G, dei radar ad alta risoluzione e delle applicazioni di rilevamento integrato nella banda di frequenza sub-THz, la caratterizzazione accurata della figura di rumore (NF) sul wafer assume un'importanza sempre maggiore. 

 

Questo webinar approfondisce il metodo NF a sorgente fredda come approccio pratico per le misurazioni oltre i 100 GHz, trattando i principi di misurazione, le tecniche di calibrazione, gli aspetti relativi all’incertezza e le migliori pratiche per ottenere risultati ripetibili e tracciabili senza ricorrere a sorgenti di rumore ad alto ENR

Chi dovrebbe partecipare a questo evento?


Ingegneri addetti ai test RF, ingegneri addetti ai test di produzione

October 4, 2023

Data

10:00AM PT

Tempo

90

Durata

Virtuale

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