On‑wafer sub‑THz NF measurements

Über diese Veranstaltung

Da 6G, hochauflösende Radar- und integrierte Sensoranwendungen in den Sub-THz-Frequenzbereich vordringen, wird eine genaue Charakterisierung der Rauschzahl (NF) auf dem Wafer immer wichtiger. 

Dieses Webinar untersucht die Kaltquellen-NF-Methode als praktischen Ansatz für Messungen jenseits von 100 GHz und behandelt Messprinzipien, Kalibriertechniken, Unsicherheitsbetrachtungen sowie bewährte Verfahren zur Erzielung reproduzierbarer und rückführbarer Ergebnisse ohne hochfrequente Rauschquellen.