제 제조 환경과 PCB의 복잡도에 맞는 적절한 ICT(회로 내 테스트) 시스템을 어떻게 선택해야 할까요?

PCB 밀도, 생산량 및 테스트 커버리지 요구 사항을 고려하여 ICT 시스템을 선택하십시오. 다음 사항을 고려하십시오: 시스템 성능: 키사이트 테크놀로지스의 ICT 시스템은 고밀도 PCB, 미세 피치 부품 및 복잡한 다층 기판을 지원합니다. 일정 수립 전략: 처리량에 맞춰 일정의 비용, 확장성 및 지속 가능성을 평가하십시오. 소프트웨어 및 분석: 키사이트 테크놀로지스의 소프트웨어는 전 세계적으로 사용되는 스마트 팩토리와의 통합은 물론, 진단 및 수율 향상을 지원합니다. 생산 적합성: 북미, 유럽 및 아시아에 구축된 생산 라인과의 호환성을 확보합니다. 현대적 과제: ICT 분야에서는 커버리지 공백과 첨단 패키지를 해결하기 위해 보완적인 테스트(예: AOI, 기능 테스트)가 필요할 수 있다.

ICT 시스템을 선정할 때 어떤 주요 사양(예: 핀 수, 테스트 커버리지, 속도, 자동화 수준 등)을 고려해야 합니까?

기술 사양을 PCB의 복잡성과 생산 목표에 맞춰 ICT 시스템을 선정하십시오. 주요 고려 사항은 다음과 같습니다: 핀 수 / 노드 용량: 키사이트 테크놀로지스의 ICT 시스템은 고밀도 보드를 지원하기 위해 수백 개에서 수천 개(예: 최대 약 5,760개)의 테스트 노드까지 확장 가능합니다. 테스트 커버리지: 높은 결함 커버리지(단락, 개방, 부품 값)를 보장하고, 접근 불가능한 노드에 대한 바운더리 스캔 또는 벡터리스 테스트를 지원해야 합니다. 테스트 속도/처리량: 고속 파라메트릭 테스트 및 병렬 측정을 통해 대량 생산의 사이클 타임을 단축합니다. 자동화 및 통합: 키사이트 테크놀로지스의 시스템은 전 세계 공장의 자동화 라인 및 인더스트리 4.0 분석 솔루션과 원활하게 연동됩니다. 고정 장치 호환성: 베드 오브 네일(Bed-of-nails) 고정 장치는 PCB 설계, 접근성 및 비용 제약 조건을 충족해야 합니다. 현대적인 고려 사항: ICT를 AOI 또는 기능 테스트와 결합하여 검사 범위 누락과 복잡한 패키징 문제를 해결합니다.

회로 내 테스트(ICT)를 통해 어떤 종류의 결함과 고장을 감지할 수 있으며, 어떤 경우에는 보완적인 테스트 방법이 필요한가?

키사이트 테크놀로지스의 솔루션을 포함한 회로 내 테스트(ICT)는 부품 단계에서 다양한 제조 결함을 탐지합니다. 주요 기능은 다음과 같습니다: 감지 가능한 결함: 단락, 개방 회로 및 누락된 부품 부품 값(R, L, C)이 잘못됨 극성/방향 문제 (다이오드, 커패시터, 집적회로) 기본적인 반도체 결함 한계점 / 현대의 과제: 고밀도 또는 미세 피치 PCB에서의 제한된 접근성 BGA, 적층 패키지 및 RF 회로에 대한 지원 범위 축소 보완적 방법: 납땜 및 숨겨진 접합부를 위한 AOI/AXI 시스템 수준 검증을 위한 기능 테스트 접근 불가능한 노드를 위한 경계 스캔 키사이트 테크놀로지스의 ICT 시스템은 전 세계 제조 공장에 널리 도입되어 있으며, 종종 이러한 방식과 결합되어 완벽한 커버리지를 제공합니다.

‘베드 오브 네일(bed-of-nails)’ 방식과 ‘플라잉 프로브(flying probe)’ 방식의 ICT 시스템은 어떤 차이가 있으며, 각각은 언제 사용해야 합니까?

‘베드 오브 네일(Bed-of-nails)’과 ‘플라잉 프로브(flying probe)’는 전 세계 제조 현장에서 사용되는 두 가지 ICT 방식입니다. 키사이트 테크놀로지스는 ICT 시스템, 고정 장치 및 소프트웨어를 통해 이 두 방식을 모두 지원합니다. 못 침대 ICT: 모든 테스트 지점에 동시에 접촉하는 스프링 핀이 장착된 전용 고정 장치를 사용합니다 고속, 넓은 커버리지, 대량 생산에 이상적 초기 설비 비용이 더 높음 플라잉 프로브 ICT: 움직이는 프로브를 사용하므로 고정 장치가 필요하지 않습니다 비용이 저렴하며, 시제품 및 소량 생산에 유연하게 대응할 수 있습니다 테스트 속도가 느려지고 처리량이 감소함 사용 시기: 네일 베드: 안정적인 설계, 대량 생산 (북미, 유럽, 아시아 공장) 플라잉 프로브: 신제품 도입(NPI), 잦은 설계 변경 현대적 관점: 복잡한 PCB의 경우, 모든 부분을 완벽하게 검사하기 위해 AOI 또는 기능 테스트를 병행해야 할 수 있습니다

회로 내 테스트는 인더스트리 4.0, 자동화 및 스마트 제조 워크플로우와 어떻게 연계되나요?

회로 내 테스트(ICT)는 데이터 기반의 자동화 제조를 가능하게 함으로써 인더스트리 4.0과 유기적으로 연계됩니다. 키사이트 테크놀로지스의 ICT 시스템, 테스트 장비 및 소프트웨어는 전 세계적으로 활용되는 스마트 팩토리 환경을 위해 설계되었습니다. 자동화 통합: SMT 라인, 핸들러 및 MES 시스템과의 원활한 연동 북미, 유럽 및 아시아 지역의 무인 생산을 지원합니다 데이터 및 분석: 키사이트 테크놀로지스의 소프트웨어는 실시간 진단, 수율 분석 및 추적 기능을 제공합니다 예측 유지보수 및 공정 최적화를 가능하게 합니다 연결성: IIoT, 클라우드 및 공장 네트워크를 위한 표준 인터페이스 현대 사회의 과제: 복잡한 PCB의 경우 ICT와 AOI, AXI, 기능 테스트를 결합해야 합니다 시스템 간 데이터 통합은 여전히 그 가치를 최대한 발휘하는 데 있어 핵심적인 요소입니다

회로 내 테스트(ICT) 구현 시 테스트 커버리지, 피스처 설계 및 전체 비용에 영향을 미치는 요인은 무엇인가?

ICT 분야의 테스트 커버리지, 픽스처 설계 및 비용은 PCB 설계 및 제조 요구 사항에 따라 달라집니다. 키사이트 테크놀로지스의 ICT 시스템, 픽스처 및 소프트웨어는 전 세계 공장에서 이러한 요소 간의 균형을 최적화하는 데 도움을 줍니다. PCB 설계 및 접근성: 테스트 포인트 밀도, 패드 크기 및 부품 간격은 달성 가능한 커버리지에 영향을 미칩니다. 경기 일정 구성의 복잡성: 네일 베드 방식의 고정 장치는 처리 면적과 속도를 높여주지만, 초기 비용과 유지보수 부담이 따릅니다. 보장 요건: 더 높은 오류 커버리지(아날로그, 디지털, RF)를 달성하려면 키사이트 테크놀로지스 시스템의 고급 기능이 필요할 수 있습니다. 생산량: 대량 생산의 경우 고정구 투자가 타당하지만, 소량 생산의 경우 유연한 접근 방식이 유리하다. 현대 사회의 과제: 고밀도 PCB와 BGA는 접근성을 제한하므로, 경계 스캔이나 기능 테스트를 병행해야 합니다.

제조용 인서킷 테스트(ICT) Keysight

병렬 테스트 시스템

복잡한 보드 어셈블리를 위한 확장 가능하고 유연한 테스트
경계 스캔 분석기

핀 단위의 정밀도를 갖춘 효율적인 결함 격리
기능 테스트 시스템

신뢰할 수 있는 생산 결과를 위한 통합 기능 테스트 시스템
회로 내 테스트 시스템

고밀도 회로 기판용 정밀 결함 탐지

병렬 테스트 시스템

키사이트 병렬 테스트 시스템은 다양한 제조 테스트 요구 사항을 위한 다용도 및 확장 가능한 솔루션을 제공합니다. Advanced 모델은 내장된 아날로그, 디지털 및 바운더리 스캔 기능을 통해 혼합 신호 PCB 테스트를 위한 소형의 비용 효율적인 플랫폼을 제공합니다. 테스트 개발 및 통합을 간소화하여 린 생산 환경에 적합합니다. Expert 모델은 수천 개의 동시 테스트 채널, 모듈형 아키텍처, 인서킷, 바운더리 스캔 및 기능 테스트를 포함한 포괄적인 커버리지를 통해 까다로운 애플리케이션에 탁월한 처리량을 제공합니다. 이 시스템은 고혼합 및 대량 생산에 탁월하며 빠른 진단과 원활한 자동화 통합을 제공합니다. Advanced에서 Expert 성능 등급까지 다양한 병렬 테스트 시스템을 살펴보고 애플리케이션에 적합한 시스템을 찾아보십시오. 선택에 도움이 필요하십니까? 아래 리소스를 확인하십시오.

시작 가격

시스템 폭

최대 노드 수

최대 병렬 테스트

픽스처 작동

Advanced

Starting from

--
System width
630 mm ~ 1200 mm
Maximum node count
512 ~ 3456
Maximum parallel testing
1 ~ 4
Fixture actuation
Press down

Expert

Starting from

--
System width
1510 mm
Maximum node count
2560
Maximum parallel testing
20
Fixture actuation
Press down

바운더리 스캔 분석기

키사이트 바운더리 스캔 분석기는 고밀도 보드에 고급 디지털 테스트 기능을 제공하여 물리적 프로브 액세스 없이 정밀한 결함 격리를 가능하게 합니다. 이 시스템은 효율적인 구조 테스트를 위해 설계되었으며, 복잡한 디지털 어셈블리 전반에 걸쳐 인터커넥트, 단락, 개방 및 스턱-앳(stuck-at) 결함에 대한 빠른 진단을 제공합니다. 인서킷 및 기능 테스트 시스템에 원활하게 통합되는 바운더리 스캔은 JTAG 기반 스캔 체인을 지원합니다. 이를 통해 접근하기 어려운 넷에 대한 액세스를 가능하게 하여 테스트 개발 시간을 단축하고 커버리지를 향상시킵니다. 귀하의 애플리케이션에 적합한 바운더리 스캔을 찾아보십시오. 선택에 도움이 필요하십니까? 아래 리소스를 확인하십시오.

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기능 테스트 시스템

키사이트 기능 테스트 시스템은 복잡한 전자 어셈블리 테스트를 위한 모듈형의 유연한 솔루션을 제공합니다. 정밀 측정, 고밀도 스위칭, 구성 가능한 전력 공급 및 동기화된 신호 수집 기능을 통해 이 시스템은 광범위한 아날로그, 디지털 및 혼합 신호 애플리케이션을 지원합니다. 내장된 자동화 및 실시간 모니터링은 테스트 개발을 간소화하고 커버리지를 향상시키며, 자동차 ECU, 산업용 컨트롤러 및 임베디드 보드와 같은 디바이스를 검증하는 데 이상적입니다. 귀하의 애플리케이션에 적합한 다양한 기능 테스트 시스템을 찾아보십시오. 선택에 도움이 필요하십니까? 아래 리소스를 확인하십시오.

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인서킷 테스트 시스템

키사이트 인서킷 테스트 시스템은 대량 생산에서 복잡하고 고밀도로 구성된 인쇄 회로 기판을 테스트하기 위한 고성능의 확장 가능한 솔루션을 제공합니다. 유연한 핀 구성, 바운더리 스캔 지원, 벡터리스 테스트 기능 및 프로그래밍 가능한 아날로그 측정을 통해 이러한 시스템은 솔더 결함, 잘못 배치된 부품 및 잘못된 값과 같은 조립 결함의 빠르고 정확한 감지를 보장합니다. 내장 진단, 직관적인 테스트 개발 도구 및 자동화 준비 통합은 생산 워크플로우를 간소화하는 동시에 오탐을 줄이고 첫 통과 수율을 향상시킵니다. 다양한 인서킷 테스트 시스템을 살펴보고 애플리케이션에 적합한 시스템을 찾아보십시오. 선택에 도움이 필요하십니까? 아래 리소스를 확인하십시오.

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자동차 전자 테스트에 대한 신뢰 확보

자동차 전자 장치는 신뢰성과 안전성을 보장하기 위해 정밀하고 포괄적인 테스트가 필요합니다. 키사이트 인서킷 테스트 시스템은 저전류 측정, 슈퍼커패시터 테스트, LED 진단, 빠른 단락 감지 등 주요 기능을 제공하며, 이는 ECU, 엔진 컨트롤러, 센서 보드와 같은 모듈에 이상적입니다. 고처리량 솔루션은 소형 보드를 병렬로 효율적으로 테스트하며, 바운더리 스캔 툴은 접근 불가능한 노드에 대한 커버리지를 향상시킵니다. 이러한 툴은 고복잡도 및 저복잡도 자동차 전자 장치 전반에 걸쳐 성능과 품질을 보장합니다.

자세한 내용

귀하에게 적합한 제조용 인서킷 테스트 솔루션을 선택하십시오.

아래 자료는 귀하의 애플리케이션에 필요한 제조용 인서킷 테스트 솔루션을 결정하는 데 도움이 될 것입니다.

자료 보기

대량 PCBA 테스트 혁신

대량 PCB 생산에서 처리량 극대화

바운더리 스캔이 서버 보드 테스트를 개선하는 방법

신호 및 부하 스위칭 구성 방법

인더스트리 4.0 스마트 팩토리에 인서킷 테스터를 통합하는 방법

제조용 인서킷 테스트 솔루션에 호환되는 소프트웨어 및 액세서리를 살펴보십시오.

간소화된 테스트 프로그램 생성, 고급 결함 진단 및 향상된 테스트 커버리지를 위한 다양한 인서킷 테스트 소프트웨어 중에서 선택하십시오. 픽스처 키트, 프로브 모듈, 바운더리 스캔 툴, 케이블 어셈블리, 센서 플레이트, 단일 프로브 등과 같은 액세서리로 ICT 시스템을 보완하십시오.