슈퍼커패시터 테스트 자동화 방법

i3070 시리즈 7i 인-서킷 테스터
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회로 내 테스터로 슈퍼 커패시터의 ESR 및 커패시턴스 평가하기

인쇄 회로 기판 어셈블리(PCBA)에서 슈퍼 커패시터를 테스트하려면 일반적으로 등가 직렬 저항(ESR)과 커패시턴스를 측정해야 합니다. 이 방법에는 잠재적인 저장 전하로 인한 테스트 장비의 손상을 방지하기 위해 슈퍼 커패시터를 완전히 방전하는 과정이 포함됩니다. 그러나 대량 생산에 맞춰 방전 시간을 최소화하는 것이 중요합니다. ESR 테스트를 수행할 때 커패시터에 빠른 전류를 인가하여 완전 충전을 방지합니다. 이 전류는 커패시터에 전압을 유도하여 ESR과 전류의 곱으로 인해 발생합니다.

측정된 전압을 전류로 나누어 ESR을 계산합니다(ESR = V/I). 이 절차 전후에는 잔류 에너지로 인한 손상을 방지하고 정확한 판독값을 보장하며 다른 회로와 민감한 테스터 구성 요소를 보호하기 위해 슈퍼 커패시터를 완전히 방전해야 합니다. 테스트 엔지니어는 다음 테스트를 진행하기 전에 전압 및 전류 측정, 슈퍼 커패시터 충전, 전압 및 전류 재측정, 슈퍼 커패시터 완전 방전 단계를 정의하는 테스트 계획을 사용해야 합니다.

슈퍼 커패시터 테스트 솔루션

슈퍼 커패시터 테스트 솔루션

결함이 있는 슈퍼커패시터를 평가하려면 회로 설계 대한 전문 지식을 갖춘 엔지니어가 구현한 다단계 테스트 계획과 맞춤형 픽스처 전자장치가 필요합니다. 키사이트 슈퍼커패시터 테스트 솔루션은 키사이트 i3070 시리즈 7i 회로 내(ICT) 테스터와 DC 전자 부하/소스 측정 장치 모듈로 구성되어 있으며 자동화된 테스트 생성을 제공함으로써 시간과 인건비를 절감해 줍니다. 효율적인 방법론을 통해 빠르고 정확하게 슈퍼커패시터를 충전, 테스트 및 방전할 수 있습니다.

표준 계측기를 활용하고 DC 전자 부하/소스 측정 장치 모듈의 간편한 통합을 도입하면 충전 및 방전 프로세스를 간소화하여 속도와 안정성을 향상시킬 수 있습니다. 이 솔루션은 각 픽스처에 대한 맞춤형 회로가 필요하지 않아 비용을 절감하고 지능형 프로그램 생성(IPG)을 통해 테스트를 자동화하여 보다 효율적이고 정확하게 수행할 수 있습니다.

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