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제품 요구 사항을 지원하는 추가 콘텐츠
포지셔닝 시스템은 피테스트 디바이스 위에 프로브 및기타 측정 장비를 정밀하게 배치할 수 있도록 지원함으로써 사이드 채널 분석에서 중요한 역할을 합니다. 정확한 위치 지준은 반복 가능한 측정을 얻고, 관심 영역을 파악하며, 여러 평가에서 일관된 결과를 보장하는 데 필수적입니다.
DS1010A 정밀 XYZ 스테이지는 3축에 걸쳐 안정적이고 매우 정확한 움직임을 제공하므로 보안 엔지니어가 전류 프로브, 전자기 프로브 및 기타 분석 하드웨어를 타겟 디바이스에 정확하게 정렬할 수 있습니다. 소형 스마트 카드, 보안 엘리먼트, 마이크로컨트롤러 또는 대형 인쇄 Circuit Board 중 무엇을 평가하든 이 스테이지는 다양한 폼 팩터와 테스트 설정을 수용할 수 있는 유연성을 제공합니다.
고급 보안 평가를 지원하도록 설계된 DS1010A는 설정의 변동성을 줄이면서 측정 일관성을 유지하는 데 도움을 줍니다. 정밀한 위치 지정과 반복 가능한 프로브 배치를 가능하게 함으로써 사이드 채널 분석 워크플로의 핵심 구성 요소를 형성하여 엔지니어가 측정 결과의 효율성, 정확성 및 신뢰성을 향상할 수 있도록 지원합니다.
상세한 보안 평가를 위해 피테스트 디바이스 위에 프로브와 측정 장비를 정확하게 배치합니다.
여러 측정에서 일관된 프로브 배치를 유지하여 신뢰할 수 있고 재현 가능한 결과를 지원합니다.
스마트 카드 및 보안 엘리먼트부터 대형 임베디드 시스템 및 인쇄 회로 기판에 이르기까지 광범위한 기기를 수용합니다.
고급 부채널 분석 및 취약성 평가에 필요한 안정성과 정밀도를 제공합니다.
Step Size
0.3 µm
작동 범위
X/Y/Z: 50 mm
Product type
Precision XYZ stage
Technology
Device Security
DS1010A
DS1010A 정밀 XYZ 스테이지는 테스트 대상 디바이스 위에 정확한 위치 지정이 필요한 다양한 키사이트 하드웨어 구성 요소의 기본 XYZ 스테이지입니다.
DS1010A 정밀 XYZ 스테이지는 테스트 대상 디바이스 위에 정확한 위치 지정이 필요한 다양한 키사이트 하드웨어 구성 요소의 기본 XYZ 스테이지입니다.
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포지셔닝 시스템을 사용하면 피측정 장치 위에 전류 프로브, 전자기 프로브 및 기타 측정 장비를 정밀하게 배치할 수 있습니다. 정확한 위치 지정을 통해 보안 엔지니어는 고품질 측정값을 캡처하고 반복 가능한 부채널 분석 평가를 수행할 수 있습니다.
프로브 위치가 약간만 변경되어도 측정 품질과 분석 결과에 영향을 미칠 수 있습니다. 정밀한 위치 지정은 여러 실험에서 측정이 일관되고 반복 가능하며 비교 가능하도록 보장하는 데 도움이 됩니다.
XYZ 스테이지는 3개의 축(X, Y, Z)을 따라 제어된 움직임을 제공하는 포지셔닝 플랫폼입니다. 이를 통해 엔지니어는 프로브와 측정 장비를 수평 및 수직으로 정확하게 이동하여 타겟 디바이스의 특정 영역에 정렬할 수 있습니다.
DS1010A는 다음과 같은 다양한 하드웨어 보안 측정 도구와 함께 사용할 수 있습니다.
전자기 방출은 디바이스의 영역에 따라 크게 다를 수 있습니다. 정밀한 위치 지정을 통해 엔지니어는 관심 영역을 찾고, 누출 핫스팟을 식별하며, 특정 회로에 측정을 집중할 수 있습니다.
항상 필요한 것은 아닙니다. 그러나 전자기 분석, 상세한 누출 조사 및 반복 가능한 보안 평가의 경우 포지셔닝 시스템이 측정 품질과 테스트 효율성을 크게 향상시킬 수 있습니다.