- 개요
- 모든 모델
- 지원
자동화된 광학 워크플로우를 위한 제어된 광 신호 컨디셔닝
키사이트 광 감쇠기는 정확하고 반복 가능한 광 부품 테스트를 위해 광 신호 전력을 정밀하게 제어합니다. 감쇠기는 테스트 중에 신호 손실을 에뮬레이션하고, 전력 레벨의 균형을 맞추며, 민감한 장치를 보호합니다. 키사이트 감쇠기는 낮은 삽입 손실, 낮은 편광 의존 손실(PDL) 및 넓은 감쇠 범위에 걸쳐 높은 분해능을 제공합니다. 이러한 기능은 단일 모드 및 다중 모드 애플리케이션 모두에서 정확하고 안정적인 신호 제어를 보장합니다. 최대 감쇠 및 채널 수를 기반으로 실제 광 링크 조건을 시뮬레이션하거나, 전력 레벨을 교정하거나, 광 테스트 설정에서 신호 컨디셔닝을 자동화하는 데 필요한 광 감쇠기를 선택하십시오. 당사의 인기 있는 구성 중 하나를 선택하거나 특정 애플리케이션에 맞게 구성하십시오.
넓은 감쇠 범위
최대 60dB의 넓은 범위에서 정밀한 제어를 제공하여 다양한 광 전력 레벨 및 테스트 시나리오에 대한 정확한 신호 손실 에뮬레이션을 가능하게 합니다.
빠른 스위칭 속도
빠른 감쇠 조정은 신호 레벨이 빠르게 변하는 자동화된 애플리케이션의 테스트 처리량과 응답성을 향상시킵니다.
높은 반복성
수천 번의 주기 동안 높은 반복성을 가진 감쇠 설정을 제공하여 안정적이고 자동화된 테스트 설정과 제조 환경에서 장기적인 사용을 지원합니다.
초저 PDL
편광 의존 손실을 최소화하여 다양한 신호 편광에 걸쳐 일관되고 정확한 감쇠를 보장하며, 민감한 광학 부품의 정밀 테스트에 이상적입니다.
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Maximum attenuation
35 dB ~ 60 dB
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Number of channels
1 ~ 4
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Insertion loss
< 1.7 dB ~ <2.2 dB
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Power range
+20 dB to -50 dB, +20 dB to -35 dB
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Fiber mode
Single-mode, Multimode
가장 인기 있는 구성
2채널 광 감쇠기 및 전력계
4채널 광 감쇠기
4채널 다중 모드 광 감쇠기
- 키사이트의 포토닉 및 광학 테스트 카탈로그를 살펴보십시오.
- 감쇠기를 이용한 광 증폭기 테스트 솔루션
서비스 및 지원
엄선된 지원 플랜과 우선적인 응답 및 처리 시간을 통해 빠르게 혁신하십시오.
예측 가능한 리스 기반 구독 및 전체 수명 주기 관리 솔루션을 통해 비즈니스 목표를 더 빠르게 달성하십시오.
KeysightCare 구독자로서 향상된 서비스를 경험하고 전담 기술 지원 및 더 많은 혜택을 받으세요.
테스트 시스템이 사양에 따라 작동하고 현지 및 글로벌 표준을 충족하는지 확인하십시오.
사내 강사 주도 교육 및 이러닝을 통해 신속하게 측정하십시오.
키사이트 소프트웨어를 다운로드하거나 최신 버전으로 업데이트하십시오.
자주 묻는 질문
광 감쇠기는 제어되고 반복 가능한 방식으로 광 신호의 전력을 줄이는 데 사용되는 장치입니다. 테스트 설정에서 광 감쇠기는 신호 손실을 에뮬레이션하고, 채널 또는 경로 간 전력 레벨의 균형을 맞추며, 민감한 수신기 또는 구성 요소를 보호하는 데 필수적입니다. 실제 링크 조건을 모방함으로써 광 감쇠기는 구성 요소가 실제 배포에서 안정적으로 작동하도록 보장합니다.
다음과 같은 경우 광 감쇠기를 사용해야 합니다.
- 광 링크에서 광섬유 손실을 시뮬레이션하십시오.
- 장치 간 신호 레벨을 교정하고 균등화합니다.
- 광 수신기의 과부하 손상을 방지하십시오.
- 성능 저하 조건에서 BER 또는 마진 테스트 수행
- 동적 전력 제어가 필요한 경우 자동화 지원
감쇠기는 수동 및 능동 광학 부품 모두에 대해 R&D 연구소, 시스템 검증 및 생산 환경에서 널리 사용됩니다.
테스트 설정을 위한 광 감쇠기를 선택할 때 애플리케이션 요구 사항을 충족하는지 확인하려면 다음 주요 사양을 고려하십시오.
- 감쇠 범위: 감쇠기가 줄일 수 있는 광 전력의 양을 결정하며, 일반적으로 최대 60dB입니다. 넓은 범위는 다양한 신호 손실 조건을 에뮬레이션할 수 있는 유연성을 제공합니다.
- 전력 범위: 감쇠기가 안전하게 처리할 수 있는 입력 전력 레벨을 나타냅니다. 왜곡이나 손상 없이 최대 신호 레벨을 수용할 수 있는 감쇠기를 선택하십시오.
- 삽입 손실: 감쇠기가 최소 또는 제로 감쇠로 설정되었을 때 발생하는 광 손실의 양입니다. 낮은 삽입 손실은 감쇠가 필요하지 않을 때 신호 저하를 최소화합니다.
- 파장 범위: 감쇠기가 시스템에 사용되는 파장(예: 통신 애플리케이션의 경우 1260–1650 nm)에서 정확하게 작동하는지 확인하십시오. 성능은 파장에 따라 달라질 수 있으므로 광대역 또는 파장 선택적 테스트에 중요합니다.
- 광섬유 모드 호환성: 광섬유 유형에 맞는 감쇠기를 선택하십시오. 장거리 및 고정밀 애플리케이션에는 단일 모드를, 단거리 및 산업용 시스템에는 다중 모드를 사용합니다. 모드 불일치는 측정 오류를 유발할 수 있습니다.
추가적인 주요 사양에는 민감한 테스트를 위한 편광 의존 손실(PDL), 자동화를 위한 반복성, 동적 테스트 시나리오를 위한 스위칭 속도가 포함될 수 있습니다. 테스트 환경에 이러한 파라미터를 일치시키면 신뢰할 수 있고 정확한 결과를 보장하는 데 도움이 됩니다.
편광 의존 손실(PDL)은 신호의 편광 상태에 따라 감쇠가 달라지는 현상을 의미합니다. 정밀 테스트, 특히 코히어런트 또는 편광에 민감한 부품의 경우 낮은 PDL은 신호 편광에 관계없이 일관된 결과를 보장합니다. 이는 변조기, 트랜시버 및 포토닉 집적 회로를 특성화할 때 특히 중요합니다.