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WirelessPro는 탁월한 용이성과 정확성으로 5G 네트워크, 5G Advanced 기술 및 미래 6G 무선 채널의 다양한 측면을 모델링, 시뮬레이션 및 분석할 수 있도록 지원합니다.
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키사이트 LA5 클래스 프로토콜 백플레인은 PCIe 및 CXL 애드인 카드에 안정적이고 신호에 최적화된 인터페이스를 제공합니다. 당사의 PCIe 프로토콜 백플레인은 실제 조건에서 디바이스 성능, 신호 무결성 및 프로토콜 준수를 철저히 평가할 수 있도록 보장합니다. 견고한 기계 설계와 광범위한 폼 팩터 호환성을 통해 개발 주기를 가속화하고 차세대 컴퓨팅, 스토리지 및 네트워킹 솔루션을 자신 있게 제공하는 데 필수적인 도구입니다. 지금 키사이트 PCIe 프로토콜 백플레인 견적을 요청하거나 주문하십시오. 선택에 도움이 필요하십니까? 아래 리소스를 확인하십시오.
레인당 최대 64GT/s의 PCIe 6.0 데이터 속도에 대한 정확하고 신뢰할 수 있는 테스트를 가능하게 하며, 이는 차세대 디바이스의 신호 무결성, 프로토콜 준수 및 성능을 검증하는 데 필수적입니다.
PCI-SIG® CEM(Card Electromechanical) 사양에 따라 설계되어 누화(크로스토크)를 줄이고 임피던스를 유지하며 백플레인과 PCIe 디바이스 간의 신호 전송을 최적화합니다.
EDSFF(Enterprise and Data Center SSD Form Factor) 및 OCP-NIC(Open Compute Project Network Interface Card)를 지원하여 다양한 데이터 센터, 스토리지 및 네트워킹 장치 테스트를 가능하게 합니다.
PCIe 보조 전원을 사용할 수 있는 저노이즈 고효율 전원 공급 장치를 특징으로 하며, 안정적이고 일관된 성능 테스트를 위해 고전력 엔드포인트 장치를 안정적으로 수용합니다.
Maximum data rate
64 GT/s
Protocols
NRZ, PAM4
Standards
PCIe 6.0, PCIe 5.0, PCIe 4.0, PCIe 3.0, PCIe 2.0, PCIe 1.0, CXL 1.1, CXL 2.0
P5563B
키사이트 P5563B PCIe 6.0 프로토콜 테스트 백플레인은 자체 포함된 휴대형 전원 공급 수동 백플레인을 사용하여 PCIe 6.0 애드인 카드를 테스트하기 위한 편리한 수단을 제공합니다. P5563B는 테스트 중인 디바이스와 함께 엑서사이저 및 분석기의 모든 조합에 필요한 전원을 제공합니다.
테스트 플랫폼에는 1개의 테스트 버스 CEM-CEM 커넥터가 함께 제공됩니다. 모든 기능을 갖추고 편리하며 휴대형인 P5563B는 새로운 PCIe 제품 테스트 시 설정을 간소화합니다.
엄선된 지원 플랜과 우선적인 응답 및 처리 시간을 통해 빠르게 혁신하십시오.
예측 가능한 리스 기반 구독 및 전체 수명 주기 관리 솔루션을 통해 비즈니스 목표를 더 빠르게 달성하십시오.
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테스트 시스템이 사양에 따라 작동하고 현지 및 글로벌 표준을 충족하는지 확인하십시오.
사내 강사 주도 교육 및 이러닝을 통해 신속하게 측정하십시오.
키사이트 소프트웨어를 다운로드하거나 최신 버전으로 업데이트하십시오.
PCI 프로토콜 테스트 백플레인은 테스트 중인 PCIe 디바이스 및 시스템을 평가하기 위한 제어되고 신뢰할 수 있는 환경을 제공하므로 유용합니다. 이를 통해 PCIe 호스트와 엔드포인트 사이에 프로토콜 분석기, 엑서사이저 및 기타 테스트 도구를 쉽게 삽입하여 DUT 또는 마더보드를 수정하지 않고도 신호 액세스를 용이하게 할 수 있습니다. 백플레인은 다양한 폼 팩터를 지원하면서 신호 무결성을 유지하여 다양한 디바이스 유형에서 원활한 검증을 가능하게 합니다. 특히 반복 가능한 테스트, 상호 운용성 문제 디버깅 및 규격 준수 검증에 유용하며, 고속 PCIe 개발 및 테스트 워크플로우에서 중요한 구성 요소입니다.
PCIe는 기계적 연결 불량, 신호 반사 또는 전압 변동과 같은 사소한 불안정성도 간헐적인 오류, 링크 실패 또는 부정확한 테스트 결과로 이어질 수 있는 고속의 민감한 인터페이스입니다. 안정적인 인터페이스는 디바이스 자체와 관련 없는 변수를 제거하여 실제 성능, 프로토콜 준수 및 오류 감지에 집중할 수 있도록 합니다. 이러한 안정성은 서로 다른 속도(예: Gen4, Gen5)에서 테스트하거나 장시간 및 스트레스 테스트 중에 특히 중요하며, 이때 불안정성은 데이터 무결성을 손상시키거나 실제 설계 문제를 가릴 수 있습니다.
PCIe 테스트 백플레인의 통합 전원 공급 장치는 호스트 시스템과 독립적으로 테스트 대상 장치(DUT)에 안정적이고 제어되며 격리된 전원 소스를 제공하므로 유용합니다. 이를 통해 테스트 중에 전력 조건을 정밀하게 관리하고, 소비량을 모니터링하며, 전력 마진 또는 결함 주입을 수행할 수 있습니다. 외부 전원 공급 장치의 필요성을 없애 설정 과정을 간소화하고, 고속 신호 무결성을 방해할 수 있는 노이즈나 불안정성을 줄여줍니다. 통합 전원 공급 장치는 또한 자동 전력 사이클링을 가능하게 하여 PCIe 장치의 스트레스 테스트, 검증 및 전력 관련 문제 디버깅에 필수적입니다.