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무엇을 찾고 있습니까?
3D Interconnect Designer는 칩렛, 스택형 다이, 패키지 및 PCB를 포함한 모든 고급 인터커넥트 구조를 위한 유연한 모델링 및 최적화 환경을 제공합니다.
25개 이상의 X-Series 애플리케이션을 사용하여 무선, 항공우주/방위, EMI 및 위상 잡음 전반에 걸쳐 신호를 분석, 복조 및 문제 해결하십시오.
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제품 요구 사항을 지원하는 추가 콘텐츠
장비를 보완하고 확장하도록 설계된 키사이트 액세서리의 전체 포트폴리오를 살펴보십시오. 아래 필터를 사용하여 모듈, 케이블, 어댑터 및 기타 시스템 구성 요소와 같은 호환 액세서리를 빠르게 찾아 특정 측정 요구 사항에 맞게 테스트 시스템을 구성, 확장 및 최적화할 수 있습니다.
사용 가능한 필터 없음
사용 가능한 필터 없음
SQuIDD(신호 품질 돌입, 드롭/드룹) 테스트 픽스처:
N5416A USB 2.0 컴플라이언스 테스트 소프트웨어에 필요합니다. Infiniium 8000, 9000, 80000 및 90000 시리즈 오실로스코프와 호환됩니다.
주파수:
1 kHz ~ 1 GHz
샘플 크기(토로이드에 한함):
높이: ≤ 8.5 mm
내경: ≥ 3.1 mm
외경: ≤ 20 mm
16454A는 도넛형 자성 재료의 정확한 투자율 측정을 위해 설계되었습니다. 이 고정물은 토로이드 주변으로 한 바퀴 돌아가도록 구성되어 있어(자속 노출 없음) 토로이드를 와이어로 감을 필요가 없습니다. 토로이드가 있는 경우와 없는 경우를 고려하여 인덕턴스로부터 복소 투자율이 계산됩니다. E4991A/4291B(옵션 002)가 측정 장비로 사용될 경우 복소 투자율을 직접 판독할 수 있습니다. 또한 다양한 크기에 맞게 조정할 수 있도록 크고 작은 픽스처가 제공됩니다.
대한 자세한 정보는 물성 테스트 장비 및 LCR 미터 & 임피턴스 측정 제품 액세서리를 방문하십시오.
주파수:
≤ 30 MHz
측정 파라미터:
커패시턴스(C), 손실 계수(D), 유전 상수(εr', εr'')
테스트 대상 물질 크기:
두께: ≤ 10 mm
직경: 10 ~ 56 mm
16451B는 고체 유전체 물질의 유전 상수를 평가하는 데 사용되며 ASTM D150을 준수합니다. 16451B는 두 전극 사이에 재료를 배치하여 커패시터를 생성하는 병렬 플레이트 방법을 사용합니다. LCR 미터 또는 임피던스 분석기는 픽스처로부터 생성된 커패시턴스를 측정하는 데 사용됩니다.
재료 테스트 장비에 대한 자세한 내용은 재료 테스트 장비를 방문하십시오.
LCR 미터 & 임피던스 측정 제품 액세서리에 대해 자세히 알아보십시오.
16453A
Measure the dielectric constant of solid materials using the parallel plate method to eliminate surface capacitance.
주파수:
1 MHz ~ 1 GHz
샘플 크기(스문드 시트에 한함):
두께: 0.3 mm ~ 3 mm
직경: ≥ 15 mm
16453A는 E4991A/4291A/B에 대해 정확한 유전율 및 탄젠트 손실 측정을 수행할 수 있도록 설계되었습니다. 두 전극 사이에 재료를 배치하여 커패시터를 생성하는 병렬 플레이트 방법을 사용합니다. E4991A/4291A/B는 고정물에서 생성된 커패시턴스를 측정하며 옵션 002 펌웨어는 16451B에 설명된 상대 복소 유전율을 계산합니다. 16451B를 사용하는 경우 병렬 전극을 보장하기 위한 조정이 필요합니다. 고정물의 전극이 유연하여 재료 표면에 따라 자동으로 조정되는 16453A에서는 이러한 조정이 필요하지 않습니다.
대한 자세한 내용은 물성 테스트 장비를 방문하십시오.
LCR 미터 & 임피던스 측정 제품 액세서리에 대해 자세히 알아보십시오.
N1428A는 특히 B2985A/87A 전위계/고저항 미터와 함께 작동하도록 설계되었으며 SMD, 리드 및 다양한 유형의 디바이스를 고정하는 데 사용되는 두 개의 컴포넌트 모듈과 함께 제공됩니다. 차폐 케이스 활용으로 전기 노이즈 영향이 감소합니다. 내장 인터록 회로가 안전한 고전압 측정을 지원합니다. N1428A를 B2985A/87A에 연결하기 위해 N1413A 고저항 미터 픽스처 어댑터도 필요합니다.
16334A는 SMD의 임피던스 평가용으로 설계되었습니다. 평가를 위해 이 픽스처가 연결되는 최소 SMD 크기는 1.6(L) x 0.8(W) mm입니다. 이 픽스처의 트위저 접촉부를 사용하면 DUT를 쉽게 고정할 수 있습니다.
키사이트 LCR 미터 및 임피던스 측정 제품 액세서리
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16047E
최대 120 MHz까지 리드 타입 디바이스의 임피던스 평가를 수행합니다; 가드 및 단락 플레이트를 포함합니다
16047E는 리드 타입 디바이스의 임피던스 평가용으로 설계되었습니다. 세 개의 터미널 디바이스에 가드 터미널을 사용할 수 있으며 단락 플레이트가 이 픽스처에 고정된 채로 제공됩니다.
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16047A는 최대 13MHz의 축형/방사형 리드 타입 디바이스의 임피던스 평가용으로 설계되었습니다. 16047A는 넓은 임피던스 측정 범위를 구현하는 켈빈 접촉부를 채택하고 있습니다. 접촉 팁은 디바이스 모양에 따라 변경할 수 있습니다.
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16034G는 SMD의 임피던스 평가용으로 설계되었습니다. 평가를 위해 이 픽스처가 연결되는 최소 SMD 크기는 0.6(L) x 0.3(W) mm입니다.
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16034E 테스트 픽스처는 SMD 컴포넌트의 임피던스 평가용으로 설계되었습니다. 평가를 위해 이 픽스처가 연결되는 최소 SMD 크기는 1.6(L) x 0.8(W) mm입니다.
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16065A
최대 +/-200 V DC 바이어스로 DUT를 측정하고, 축 방향/방사형 리드 부품도 측정합니다.
16065A 테스트 픽스처를 사용하면 최대 +/-200V DC 바이어스로 DUT를 측정할 수 있습니다. 16047A/D의 동일한 모듈을 사용하여 축 방향/방사형 리드 부품을 측정할 수 있습니다.
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16196C
SMD 크기 (0.6L ± 0.03) x (0.3W ± 0.03) x (0.27H ~ 0.33)에 대해 정확하고 반복 가능한 측정 수행
16196C 표면 실장 디바이스(SMD) 테스트 픽스처는 최대 3GHz의 정확한 상관 관계를 통해 뛰어난 반복성 및 유용성을 제공합니다. 16196 시리즈 픽스처는 특정 SMD 크기에 적합하도록 맞춤 설계되었으며(아래 표 참조) 신뢰할 수 있는 접촉을 통해 반복 가능한 DUT 포지셔닝을 제공하여 안정적인 측정 결과를 도출할 수 있으므로 작업자로 인한 오류 가능성이 줄어듭니다. 전통적으로 최대 3GHz의 SMD 인덕터 평가를 구현하기 어려웠지만, 이제 16196 시리즈를 통해 정확하고 반복 가능한 측정을 쉽게 수행할 수 있습니다.
| 16196 시리즈의 해당 디바이스 크기 | ||
|---|---|---|
| 모델 | 크기 코드 | 크기 사양 L x W x H(mm) |
| 16196A | 0603 (inch) / 1608 (mm) | (1.6 ± 0.15) x (0.8 ± 0.15) x (0.4~0.95) |
| 16196B | 0402 (inch) / 1005 (mm) | (1.0 ± 0.1) x (0.5 ± 0.1) x (0.3~0.6) |
| 16196C | 0201 (inch) / 0603 (mm) | (0.6 ± 0.03) x (0.3 ± 0.03) x (0.27~0.33) |
| 16196D | 01005 (inch) / 0402 (mm) | (0.4 ± 0.02) x (0.2 ± 0.02) x (0.11~0.22) |