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16454A
다양한 크기의 도넛형 재료에 대한 정확한 투과성을 측정합니다.
주파수:
1 kHz ~ 1 GHz
샘플 크기(토로이드에 한함):
높이: ≤ 8.5 mm
내경: ≥ 3.1 mm
외경: ≤ 20 mm
16454A는 도넛형 자성 재료의 정확한 투과도 측정을 위해 설계되었습니다. 이 고정물은 토로이드 주변으로 한 바퀴 돌아가도록 구성되어 있어(자속 누출 없음) 토로이드를 와이어로 감을 필요가 없습니다. 토로이드가 있는 경우와 없는 경우를 고려해 인덕턴스로부터 복소 투자율이 계산됩니다. E4991A/4291B(옵션 002)가 측정 장비로 사용될 경우 복소 투자율을 직접 판독할 수 있습니다. 또한 다양한 크기에 맞게 조정할 수 있도록 크고 작은 픽스처가 제공됩니다.
대한 자세한 정보는 물성 테스트 장비 및 LCR 미터 & 임피턴스 측정 제품 액세서리를 방문하십시오.
16451B
고체 유전체 물질의 유전 상수 평가; ASTM D150을 준수합니다.
주파수:
≤ 30 MHz
측정 파라미터:
커패시턴스(C), 손실 계수(D), 유전 상수(εr', εr'')
테스트 대상 물질 크기:
두께: ≤ 10 mm
직경: 10 ~ 56 mm
16451B는 고체 유전체 물질의 유전 상수를 평가하는 데 사용되며 ASTM D150를 준수합니다. 16451B는 두 전극 사이에 재료를 배치하여 커패시터를 생성하는 병렬 플레이트 방법을 사용합니다. LCR 미터 또는 임피던스 분석기는 픽스처로부터 생성된 커패시턴스를 측정하는 데 사용됩니다.
재료 테스트 장비에 대한 자세한 내용은 재료 테스트 장비를 방문하십시오.
LCR 미터 & 임피던스 측정 제품 액세서리에 대해 자세히 알아보십시오.
16453A
병렬 플레이트 방법을 사용해 고체 재료의 유전율을 측정하여 표유 커패시턴스를 제거하십시오.
주파수:
1 MHz ~ 1 GHz
샘플 크기(스무드 시트에 한함):
두께: 0.3 mm ~ 3 mm
직경: ≥ 15 mm
16453A는 E4991A/4291A/B에 대해 정확한 유전율 및 탄젠트 손실 측정을 수행할 수 있도록 설계되었습니다. 두 전극 사이에 재료를 배치하여 커패시터를 생성하는 병렬 플레이트 방법을 사용합니다. E4991A/4291A/B는 고정물에서 생성된 커패시턴스를 측정하며 옵션 002 펌웨어는 16451B에 묘사된 상대적 복소 유전율을 계산합니다. 16451B를 사용하는 경우 병렬 전극을 보장하기 위한 조정이 필요합니다. 고정물의 전극이 유연하여 재료 표면에 따라 자동으로 조정되는 16453A에서는 이러한 조정이 필요하지 않습니다.
대한 자세한 내용은 물성 테스트 장비를 방문하십시오.
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16334A
최소 1.6(L) x 0.8(W) [mm]의 SMD 크기에서 임피던스 평가를 수행합니다
16334A는 SMD의 임피던스 평가용으로 설계되었습니다. 평가를 위해 이 픽스처가 연결되는 최소 SMD 크기는 1.6(L) x 0.8(W) mm입니다. 이 픽스처의 트위저 접촉부를 사용하면 DUT를 쉽게 고정할 수 있습니다.
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16047E
최대 120 MHz까지 리드 타입 디바이스의 임피던스 평가를 수행합니다; 가드 및 단락 플레이트를 포함합니다
16047E는 리드 타입 디바이스의 임피던스 평가용으로 설계되었습니다. 세 개의 터미널 디바이스에 가드 터미널을 사용할 수 있으며 단락 플레이트가 이 픽스처에 고정된 채로 제공됩니다.
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16047A
최대 13MHz의 축형/방사형 리드 타입 디바이스의 임피던스를 평가할 수 있습니다
16047A는 최대 13MHz의 축형/방사형 리드 타입 디바이스의 임피던스 평가용으로 설계되었습니다. 16047A는 넓은 임피던스 측정 범위를 실현한 켈빈 접촉부를 채택하고 있습니다. 접촉 팁은 디바이스 모양에 따라 변경할 수 있습니다.
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16034G
최소 0.6(L) x 0.3(W) [mm]의 SMD 크기에서 임피던스 평가를 수행합니다
16034G는 SMD의 임피던스 평가용으로 설계되었습니다. 평가를 위해 이 픽스처가 연결되는 최소 SMD 크기는 0.6(L) x 0.3(W) mm입니다.
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16034E
최소 1.6(L) x 0.8(W) [mm]의 SMD 크기에서 임피던스 평가를 수행합니다
16034E 테스트 픽스처는 SMD 콤포넌트의 임피던스 평가용으로 설계되었습니다. 평가를 위해 이 픽스처가 연결되는 최소 SMD 크기는 1.6(L) x 0.8(W) mm입니다.
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16065A
Measure a DUT with up to +/-200 V DC bias and also measure axial/radial lead components
The 16065A test fixture makes it possible to measure a DUT with up to +/-200V DC BIAS. The same modules of 16047A/D can be used to allow measurements of axial/radial lead components.
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16196C
Perform accurate and repeatable measurements on SMD size of (0.6L ± 0.03) x (0.3W ± 0.03) x (0.27H to 0.33)
16196C 표면 실장 디바이스(SMD) 테스트 픽스처는 최대 3GHz의 정확한 상관관계를 통해 뛰어난 반복성 및 유용성을 제공합니다. 16196 시리즈 픽스처는 특정 SMD 크기에 적합하도록 맞춤 설계되었으며(아래 표 참조) 신뢰할 수 있는 접촉을 통해 반복 가능한 DUT 포지셔닝을 제공하여 안정적인 측정 결과를 도출할 수 있으므로 작업자로 인한 오류 가능성이 줄어듭니다. 전통적으로 최대 3GHz의 SMD 인덕터 평가를 구현하기 어려웠으나 이제는 16196 시리즈를 통해 정확하고 반복 가능한 측정을 쉽게 수행할 수 있습니다.
| 16196 시리즈의 해당 디바이스 크기 | ||
|---|---|---|
| 모델 | 크기 코드 | 크기 사양 L x W x H(mm) |
| 16196A | 0603 (inch) / 1608 (mm) | (1.6 ± 0.15) x (0.8 ± 0.15) x (0.4~0.95) |
| 16196B | 0402 (inch) / 1005 (mm) | (1.0 ± 0.1) x (0.5 ± 0.1) x (0.3~0.6) |
| 16196C | 0201 (inch) / 0603 (mm) | (0.6 ± 0.03) x (0.3 ± 0.03) x (0.27~0.33) |
| 16196D | 01005 (inch) / 0402 (mm) | (0.4 ± 0.02) x (0.2 ± 0.02) x (0.11~0.22) |
16198A
Designed for impedance evaluations of bottom electrode SMDs and supports 201 (mm) and 402 (mm) sizes
16198A는 하단 전극 SMD의 임피던스 평가를 위해 고안된 것으로 최대 3 GHz의 안정적인 주파수 특성을 실현하고 반복성이 우수한 측정을 제공합니다. 키사이트 16198A는 매우 작은 크기의 SMD(0201(mm) 및 0402(mm))를 지원합니다.
16197A
Designed for impedance evaluations of bottom electrode SMDs and supports sizes from 1005 (mm) to 3225 (mm)
키사이트 16197A는 바닥 전극 SMD의 임피던스를 평가하도록 설계되었습니다. 3GHz까지 안정적인 주파수 특성을 얻어 매우 재현성 높은 측정 결과를 제공합니다. 키사이트 16197A는 1005(mm)/0402(인치)에서 3225(mm)/1210(인치)에 이르는 다양한 SMD 크기를 지원합니다. 옵션 001을 사용하면 0603(mm)/0201(인치) 크기까지 지원됩니다.