チップデザインからデバイスの製造まで、メモリが関わらない分野はありません。サーバー、ワークステーション、でありデスクトップだけでなく、民生用エレクトロニクス、自動車、その他のシステムデザインにもメモリは組み込まれています。DDR (Double Data Rate) SDRAM (Synchronous Dynamic Random Access Memory)規格は、世代が進むごとに速度の向上、フットプリントの縮小、パワー効率の向上など、さまざまな改善を実現しています。しかし、このような改善からはデザインとテストに関する新たな課題が生じます。LPDDR (Low-Power DDR)はモバイルデバイスを対象とした規格で、固有の課題が存在します。キーサイトは、DDRデザインに必要なすべてのパラメータを短時間で正確にテストすることで、市場投入までの時間を短縮するお手伝いをします。

DDRのデザインとシミュレーション

ネットワークの高速化には、メモリの高速化が不可欠です。LPDDR/DDR規格の新しいバージョンでは、メモリに格納されているデータへのアクセスが高速化されています。このようなDDRテクノロジーの高速化により、デザインと検証に関する新たな課題に直面することになります。DDRメモリシステムのデザインとシミュレーションは、シリコンのテープアウトより前に問題を発見し、デザインのシグナルインテグリティーを維持するために有効です。デザインおよびシミュレーションソフトウェアを使用することでトランスミッター、レシーバー、チャネルのデザインを最適化し、必要なスピードグレードで最高の性能と信頼性を実現できます。キーサイトは、早い段階でデザインを最適化することで、最初のプロトタイプ作成より前に、シグナルインテグリティーの問題を解決し、パワー効率を確保し、厳格なエラーマージンに収めるお手伝いをします。

DDRシミュレーション画像
DDRメモリの挿入画像

DDR物理層テスト

LPDDR/DDRトランスミッター(Tx)とレシーバー(Rx)のデザインには、業界仕様への準拠と他のコンポーネントとの相互運用性を確認するテストが必要です。規格の世代が進むたびに、DDR物理層テストの新しい要件が導入されます。特にDDR 5.0では、前の世代の規格で要求されていなかった新しいレシーバー・コンプライアンス・テストが導入されています。キーサイトは、DDR仕様を定義している組織JEDEC(Joint Electronic Devices Engineering Council)と協力して、業界仕様への準拠を正確にテスト可能な測定方法を開発しています。

キーサイトは、最新の業界標準に基づくDDRデザインの短時間かつ正確なテストを可能にすることで、お客様が新しい世代の規格の詳細と要件の理解に煩わせることなくデザインに集中できるように支援します。

DDRプロトコル検証

データの破損は、LPDDR/DDRデザインの検証時によく起きる現象です。データの破損の根本原因を特定するのは困難な場合があります。通常は、シグナルインテグリティーまたは機能に関する問題がデザインに存在するのが原因です。

DDRメモリシステムが期待通りに動作しない場合、トレースキャプチャーと解析の機能を備えた機能デバッグ/解析/プロトコルコンプライアンス検証ソリューションが必要です。キーサイトはお客様にシステムの動作を理解し、問題の根本原因を短時間で突き止めるために必要な解析機能を提供します。

DDRのデュアルスロット画像

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