スーパーキャパシタの試験を自動化する方法

i3070シリーズ 7iインサーキットテスター
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インサーキットテスターによるスーパーキャパシターのESRとキャパシタンスの評価

プリント回路基板アセンブリ(PCBA)上のスーパーキャパシタをテストするには、通常、等価直列抵抗(ESR)とキャパシタンスを測定する必要がある。この方法では、潜在的な蓄積電荷による試験装置の損傷を避けるため、スーパーキャパシタを完全に放電する必要がある。しかし、大量生産に合わせるために放電時間を最短にすることが重要である。ESR試験を実施する際には、完全な充電を防ぐためにコンデンサに急速電流を流します。この電流はコンデンサに電圧を誘起し、ESRと電流の積から生じる。

測定した電圧を電流で割って ESR を計算する(ESR = V/I)。この手順の前後では、残留エネルギーによる損傷を防ぎ、正確な測定値を確保し、他の回路や敏感なテスター部品を保護するために、スーパーキャパシターを完全に放電することが必須である。テストエンジニアは、次のテストに進む前に、電圧と電流の測定、スーパーキャパシタの充電、電圧と電流の再測定、スーパーキャパシタの完全放電の手順を定義するテスト計画を採用すべきである。

スーパーキャパシタテストソリューション

スーパーキャパシタテストソリューション

故障したスーパーキャパシタを評価するには、回路設計の専門知識を持つエンジニアが実装した多段階のテストプランとカスタムフィクスチャエレクトロニクスが必要です。キーサイトのスーパーキャパシタテストソリューションKeysight i3070シリーズ7iインサーキット(ICT)テスタとDC電子負荷/ソースメジャーユニットモジュールで構成されるこのシステムは、テストデータの自動生成により時間と人件費を削減します。この効率的な手法により、スーパーキャパシタの充電、テスト、放電を迅速かつ正確に行うことができます。

標準計測器を活用し、DC電子負荷/ソースメジャーユニットモジュールの容易な統合を導入することで、充電および放電プロセスを合理化し、速度と信頼性を向上させることができます。ソリューション 各治具のカスタム回路の必要性を排除することで経費を削減し、インテリジェント プログラム生成 (IPG) によってテストを自動化し、より効率的かつ正確になります。

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