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HIGHLIGHTS
- 従来のFE-SEMと同等の分解能とイメージング
- EDS機能をフルに統合することで、定量元素分析が可能
- 可変低電圧によって、サンプルを導電的にコーティングする必要性を最小化
- プログラム可能なX/Y/Zステージにより、正確な座標設定、スキャン、位置の保存が可能
- 静電レンズにより、頻繁に再調整を行わなくても、再現性のある性能を維持
- 小型サイズなので、あらゆる研究ラボに容易に設置可能(特別な設備は不要)
研究のリソース
SEM製品について
2018年4月1日にて販売完了いたしました。
(製品サポートは、2024年2月末日まで行います。)
サポート窓口:
・SEM製品について sem-support@keysight.com (英語でのサポートとなります。)
HP/アジレントから受け継がれる原子間力顕微鏡、薄膜硬度計、走査型電子顕微鏡のラインナップをご覧ください。
Keysight 8500B電界放出走査型電子顕微鏡(FE-SEM)は非常に小型でありながら、低電圧イメージング、高い表面コントラスト、高分解能を実現できるように最適化されています。 この革新的で高度なテクノロジーを備えたシステムは、エネルギー分散型分光法(EDS)機能もフルに内蔵しています。任意のポイント、連続ラインスキャン、ユーザー定義領域マップで、定量元素分析を実行できます。 炭素のような軽い元素から、アメリシウムまでの元素を検出できます。
8500Bは設置しやすいプラグアンドプレイ方式で、あらゆるラボで実際に使用できるようにデザインされており、AC電源コンセントさえあれば使用できます。 この革新的な科学グレードシステムは、非常に優れた表面コントラストを実現する低電圧イメージング技術を提供します。ナノスケール機能により、ポリマー/薄膜/生体材料の他、基板/ガラス上でエネルギーの影響を受けやすいサンプルなど、さまざまなナノ構造のサンプル材料を観察できます。
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