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Keysightの N4155A 高速損失測定 ソリューションは、研究開発および製造の両環境において、波長依存光学デバイスの高速かつ高確度な特性評価を提供します。
テスト・コストの最小化、スループットの最大化Keysightの革新的な N4155A 高速損失測定 ソリューションは、特にファイバ・ブラッグ・グレーティング (FBG) 、薄膜フィルタ (TFF) 、およびFBG型とTFF型の光コンポーネントの波長依存性デバイスを特性評価する目的でデザインされています。N4155Aは、スペクトル転送機能の迅速かつ高品質な測定を提供すると共に、次の機能を提供します：
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クイック設定および使いやすさ Keysightのフォトニック・ファンデーション・ライブラリ (PFL) では、特定のテスト、タスク、および解析の実施を迅速かつ容易なものにする、すぐに役立つ機能がすでに用意されています。
