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E6607B EXT無線通信テスト・セット

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HIGHLIGHTS

無線機器の製造テスト・ニーズの予測

次世代のnon-signaling testのコストを削減するために最適化されたアーキテクチャを活用できます。
LTE TDD/FDD、HSPA+、W-CDMA、1xEV-DO、cdma2000®、GSM、EDGE-Evo、TD-SCDMA、WiMAXTM、Bluetooth®、GPS/GNSSなどに必要な、マルチフォーマットの規格に準拠した校正／検証テストのサポートが追加されています。
最新のスケーラブルなアーキテクチャを採用しているので、テスト・システムを将来にわたって使い続けることができます。

テストの開発時間の短縮

実証済みのXシリーズアナライザの測定により、NPIから製造にシームレスに移行できます。
Signal Studioソフトウェアを使用して、無線機器を同期／制御／テストするための信号を簡単に作成することができます。
Sequence Studioソフトウェアのグラフィカル・インタフェースを使用して、テスト・プランの作成／トラブルシューティングを簡単に行うことができます。
チップセット・ソフトウェアを使用してデバイスの校正／検証を最適化することにより、量産化までの時間を短縮できます。

高速かつ正確な測定の実現

最新のチップセット用の高速シーケンスnon-signaling testモードの使用により、スループットを最大化することができます。
1回の収集で複数の測定値が得られるため、シーケンス・アナライザ・モードでテスト・プランを高速化することができます。
測定確度に優れ、製造歩留まりが向上します。
高精度かつコストパフォーマンスの高いマルチポート・アダプタオプションを準備

仕様

10～3800 MHzの周波数レンジを備え、セルラ・バンド全体に対応（LTE TDDバンド43を含む）
－110～＋10 dBmの出力レベル範囲（変調時）
VSWR：1.2:1未満（10～2400 MHz）
＜±0.3 dBの測定確度（代表値）

製造テストの変革

EXT無線通信テスト・セットは、最新のスマートフォンやタブレットなどの無線機器の製造テストの厳しい要件に対応するように設計されています。今日のマルチフォーマット、マルチバンドの無線機器の製造コストを抑えるために、EXTでは、最新のチップセットの高速シーケンスnon-signaling testモードをサポートする高度なシーケンス・アナライザを使用することによって、高速かつ正確な校正／検証テスト結果を得ることができます。EXTはXシリーズプラットフォームの一部で、高スループットの製造テスト用に最適化された、実証済みの規格に準拠した測定アプリケーションを使用できます。

テスト・コストをさらに削減するために、E6617Aマルチポート・アダプタでは、パラレル・レシーバ・テストにより、製造スループットの最大化と専有面積の最小化を実現できます。

テスト・プランの開発を簡素化し、量産化までの時間を短縮するために、EXTでは高度なソフトウェア・ツールも使用できます。