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パワーデバイスアナライザ／カーブトレーサ Si、SiC、GaNデバイス向け高出力テスト

モデル: PD1500A

概要
オプション
アクセサリ
ソフトウェア
サポート

ダイナミック・パワー・デバイス・アナライザ／ダブル・パルス・テスター

PD1500Aはキーサイト製の測定ソリューションとして、ワイドバンドギャップ半導体に対し信頼性と再現性の高い測定を可能にします。また、このシステムではユーザーと測定ハードウェアの安全が確保されます。

最大出力電圧

1200 V
サポートされる測定

Turn-on, Turn-off, Switching, Dynamic on-resistance, Gate charge, Reverse recovery, Dynamic voltage / current

View Data Sheet

ハイライト

ワイドバンドギャップパワー半導体（SiCおよびGaN）ダイナミック特性を、高い信頼性と再現性で測定。
測定項目にはターンオン、ターンオフ、スイッチング、逆回復、ゲート電荷、その他多数を含む。
DUTとユーザーの双方に配慮したサイトでのテスト環境を提供。
拡張性がありアップグレード可能なモジュラープラットフォームにより、あらゆるパワーデバイスのテストが可能。

既製の測定ソリューションとして、PD1500Aはワイドバンドギャップ半導体の信頼性と再現性の高い測定を提供します。このプラットフォームは、ユーザーの安全とシステムの測定ハードウェアの保護を保証します。

さらに、キーサイトの測定技術における専門知識に基づいて、再現性のあるDPTの結果が確実に得られます。イノベーションの例としては、高周波測定（GHzレンジ）、低リーケージ（フェムトアンペアレンジ）、パルスドパワー（1,500 Aの電流、10 µsの分解能）などが挙げられます。キーサイト独自の視点から、パワー半導体のダイナミック特性評価で直面する問題を解消するお手伝いをします。

PD1500Aは、プローブ補正、オフセット調整、スキュー補正、コモン・モード・ノイズ除去などの標準的な測定手法を搭載しています。これらの手法は画期的な測定トポロジーとレイアウトで活用されます。また、このシステムのために特別に開発された半自動の校正ルーチン(AutoCal)により、システムの利得とオフセット誤差が補正できます。また、ディエンベディング手法を用いて、電流シャントの誘導性寄生成分も補正できます。

JEDECは、マイクロエレクトロニクス業界向けのオープン標準や文献を開発するグローバルのリーダーです。 JEDECの委員会は、幅広い技術の規格の開発において、業界をリードしています。

JEDEC委員会：JC-70 Wide Bandgap Power Electronic Conversion Semiconductors
JEDEC規格では、パワー半導体業界向けにWBG規格を提供する必要性が認識されました。 2017年9月に、GaN JC-70.1とSiC JC-70.2のためのJC-70 Wide Bandgap Power Electronic Conversion Semiconductors委員会が設立されました。それぞれのセクションには3つのタスクグループがあり、信頼性と品質保証の手順、データシート要素とパラメータ、テストと特性評価方法に焦点を絞って作業を行っています。

キーサイトは、これらの規格の開発に積極的に参加しています。

JEDECが継続してWBGデバイスの動的テストを定義している中で、標準化されたいくつかのテストの提供が始まっています。 Keysight PD1500A DPTは、以下の主要な性能パラメータを決定します：