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熱起電力（多くの場合リード線が原因）に起因する誤差の除去
異なる金属による熱起電力により、測定回路に寄生電圧VEMFが生じる場合があります。この電圧により測定誤差、R=(V+ VEMF)/iが発生します。
抵抗の内部または回路で、異なる金属が異なる温度になると熱起電力が発生します。DUT、リレー（マルチプレクサ）、マルチメータの接合部に注意する必要があります。各金属の接合部は熱電対を形成し、接合部温度に比例した電圧が発生します。すべてに対して銅接続を使用することにより誤差を最小限にすることができます。
オフセット補正により熱起電力による誤差を最小にすることができます。下の図はオフセット補正測定に用いられる2種類の測定を説明しています。1つは電流源があるもの、もう1つは電流源がないものです。
実際の抵抗は、最初の測定から2回目の測定を引いて既知の電流源で割ることによって求めることができます。オフセット補正を使用すると、マルチメータでは2つの測定を実行し、補正済み抵抗のみを表示します。オフセット補正は、2端子抵抗測定と4端子抵抗測定の両方で使用できます。オフセット補正の使用により、測定確度が向上しますが、測定速度は低下します。