今日のチップイノベーターを明日へ導く

キーサイトの半導体教育ラボソリューションは、大学が半導体理論と実践的な測定演習を結びつけるのに役立つように設計されています。このポートフォリオには、UU101LAB 基本設計と測定、 UU102LAB パラメトリックテストとオンウェハー測定、および UU103LAB フォトニクスIC測定の3つの重点的な学習パスが含まれています。これらを組み合わせることで、学生はプロフェッショナルグレードの半導体計測器、ソフトウェア、ガイド付きラボ演習、および実際の半導体研究、開発、製造環境で使用されるワークフローで実践的な経験を積むことができます。

正確な内容は選択されたラボによって異なります。

• UU101LAB 基本設計と測定は、基礎的な半導体デバイス測定と高周波（RF）設計に焦点を当てています。これには、12時間の構造化されたハンズオンラボ、事前構築されたDigital Learning Suite（DLS）テストプランとラボシート、Advanced Design System（ADS）プロジェクト、高精度ソースメジャーユニット（SMU）へのアクセス、および発光ダイオード（LED）、バイポーラ接合トランジスタ（BJT）、金属酸化膜半導体電界効果トランジスタ（MOSFET）、ミキサ設計、電界効果トランジスタ（FET）アンプ設計に関する学習活動が含まれます。

• UU102LAB パラメトリックテストとオンウェハー測定は、デバイス特性評価とウェハーレベル測定に焦点を当てています。これには、プローブステーション、パラメトリックアナライザ、被試験デバイス（DUT）ユニット、および7つのガイド付きラボにわたる13時間の構造化されたハンズオンラボ演習が含まれます。学生は、電流-電圧（I-V）測定、容量-電圧（C-V）解析、しきい値電圧抽出、超低電流測定、リーク特性評価、パルス測定、自己発熱緩和、データ解釈を学習します。

• UU103LAB フォトニクスIC測定は、フォトニック集積回路（PIC）測定と光結合に焦点を当てています。これには、プローブステーション、波長可変レーザー光源、コンポーネントアナライザ、ソースメジャーユニット、偏波シンセサイザ、光パワーメータ、3つのフォトニックIC DUTユニット、Lambdascan測定ソフトウェア、および6つのガイド付きラボにわたる18時間の構造化されたハンズオンラボ演習が含まれます。

学生に達成させたい学習成果に基づいてラボを選択してください。

• コースで半導体デバイス測定とRF設計の基礎を導入する必要がある場合は、UU101LAB 基本設計と測定を選択してください。これは、DLS、ADS、高精度SMUなどのプロフェッショナルグレードのツールを使用して、基本的なデバイス動作を回路設計、シミュレーション、最適化に接続するコースに最適です。

• コースで半導体デバイス特性評価、ウェハープロービング、低電流測定、I-V測定、C-V測定、パルス試験、および実践的なデータ解析を教える必要がある場合は、UU102LAB パラメトリックテストとオンウェハー測定を選択してください。学生に現実的なウェハーレベルおよびデバイス特性評価ワークフローを体験させることが目的である場合に、最も適しています。

• コースでフォトニックデバイスのテスト、光結合、波長依存測定、偏波特性、光電変換または電光変換の検証を教える必要がある場合は、UU103LAB Photonics IC Measurement を選択してください。これは、学生がフォトニックICテストと光結合最適化の実践的な経験を積めるように設計されています。

大学は、これらのラボを段階的な学習経路として利用することもできます。例えば、学生は基本的な半導体設計と測定から始め、パラメトリックテストとオンウェーハ測定に進み、その後、特殊な光および電気光学アプリケーション向けのフォトニックIC測定へと移行できます。

はい、できます。キーサイトの半導体教育ラボソリューションは、学部および大学院の半導体教育向けに位置付けられています。これは、教育者が体験学習を提供し、学生が半導体計測、測定、およびソフトウェアワークフローで使用される実践的なスキルを習得できるように設計されています。

学部コースでは、これらのラボは学生が教科書の概念から実践的な測定へと移行するのに役立ちます。適切なトピックには、基本的なデバイス特性評価、I-V曲線、C-V特性、しきい値電圧、リーク電流、RF設計の基礎、およびデバイスの動作と回路性能の関係が含まれます。

大学院コースまたは上級選択科目では、これらのラボは、ウェーハレベル測定、パラメトリックテスト、低電流測定、パルス測定、自己発熱効果、フォトニックIC測定、光結合、偏波制御、および高度なデータ解釈におけるより深い研究をサポートできます。UU102LABとUU103LABは、デバイス物理学、測定不確かさ、ウェーハレベルのワークフロー、および業界標準の検証方法を結びつける必要があるコースに特に関連しています。

これらのラボは、半導体研究および製造環境で使用される機器、測定方法、およびワークフローに学生が実践的に触れる機会を提供する必要がある人材育成プログラム、半導体ブートキャンプ、技術ハブ、およびトレーニングセンターもサポートできます。

はい。キーサイトの教育ソリューションは、カリキュラムに基づいたリソースで教室およびラボでの指導をサポートするように設計されています。各教育ソリューションには、編集可能なスライド、ラボシート、および詳細なラボ手順が記載されたカスタマイズ可能なトレーニングキットが付属しています。特に半導体教育ラボについては以下の通りです。

• UU101LABには、すぐに教えられる構造化されたラボ、事前構築されたDLSテストプラン、ラボシート、およびミキサとFETアンプ設計用のADSプロジェクトが含まれています。

• UU102LABには、C-V測定、I-Vラボ、しきい値電圧抽出、超低電流測定、リーク特性評価、パルス測定、自己発熱緩和、データ分析など、パラメトリックテストおよびオンウェーハ測定のための構造化された実践演習が含まれています。

• UU103LABには、フォトニックICテスト、光結合、デバイス特性評価、波長依存測定、および偏波関連測定のためのすぐに使用できるラボ実験と構造化された教育モジュールが含まれています。

これにより、教育者はコース開発時間を短縮し、学生のラボ体験を標準化し、すべてのラボ演習をゼロから構築することなく、業界に関連する半導体ワークフローを導入できます。

セットアップ要件は、ラボの構成、学生グループの数、選択された機器、およびコースが設計、ウェーハレベル測定、またはフォトニックIC測定のいずれに焦点を当てているかによって異なります。一般的に、大学はラボベンチ、機器の配置、コンピュータまたはソフトウェアへのアクセス、安全なデバイス取り扱い、インストラクターの準備時間、およびデバイス、プローブ、ケーブル、光学アクセサリ、教材の適切な保管場所を計画する必要があります。 

セットアップはラボによって異なります。

• UU101LAB は、DLS、ADS、および高精度SMUベースのデバイス特性評価を使用した基本的な設計と測定に焦点を当てています。これは、学生がソフトウェアベースの設計演習と実践的な電気測定を組み合わせることができる教育環境に最適です。

• UU102LABは、プローブステーション、パラメトリックアナライザ、DUTユニット、および構造化されたラボ演習を使用したオンウェーハまたはデバイスレベル測定のためのスペースとセットアップを必要とします。これは、半導体パラメトリックテストおよびオンウェーハ測定教育向けに設計されています。

• UU103LABは、光および電気計測器、プローブステーション、フォトニックIC DUTユニット、レーザー光源、コンポーネントアナライザ、偏波シンセサイザ、光パワーメータ、およびLambdascan Measurement Softwareを含むフォトニクス測定セットアップを必要とします。これは、フォトニックICテストおよび光結合教育向けに設計されています。

教育者がこれらの決定を単独で行う必要はありません。工学教育ラボのセットアップには知識と計画が必要であり、教育ソリューションは教育者のニーズに合致する必要があります。大学はキーサイトと連携し、カリキュラムと施設に最適な教育ソリューション、ラボ構成、および導入アプローチを決定する支援を受けることができます。