「アナログソースを用いた高速RFデバイス試験」をダウンロード
このアプリケーションノートでは、コンパクトなRFおよびマイクロ波アナログ信号発生器が、研究開発、製造、および現場環境における一般的なデバイスの検証およびテストワークフローをどのようにサポートできるかを解説します。本資料を参考に、信号源の出力電力、信号の純度、スイッチング速度、変調、およびスイープモードが、受信機テスト、RSSI校正、LOおよびクロックの代替、ならびに増幅器の特性評価にどのように活用されるかを確認してください。
- ブロッカーや干渉源の存在下での受信機の動作をテストする
- チャネルおよび帯域をまたいでRSSIを校正する
- 開発中のLOおよびクロックソースの代替
- 増幅器の利得、P1dB、IMD、およびTOIを測定する
- ソースの性能をRF試験要件に適合させる