アナログソースによる高速RFデバイスのテストをダウンロード
このアプリケーションノートでは、コンパクトなRFおよびマイクロ波アナログ信号発生器が、R&D、製造、およびフィールド環境における一般的なデバイス検証およびテストワークフローをどのようにサポートできるかを示しています。これを使用して、ソース出力電力、信号純度、スイッチング速度、変調、およびスイープモードが、レシーバテスト、RSSIキャリブレーション、LOおよびクロックの置換、アンプの特性評価にどのように適用されるかを確認してください。
- ブロッカーと干渉波を用いてレシーバーの動作をテスト
- チャネルとバンド全体でRSSIを校正
- 開発中にLOおよびクロックソースを置き換え
- アンプのゲイン、P1dB、IMD、TOIを測定
- ソース性能をRFテスト要件に合わせる