Analisador de dispositivos de potência/traçador de curvas Testes de alta potência para dispositivos Si, SiC e GaN

• Medição confiável e repetível das características dinâmicas dos semicondutores de potência de banda larga (SiC, GaN).
• As características medidas incluem ativação, desativação, comutação, recuperação reversa, carga de porta e muitas outras.
• Ambiente de teste seguro para o DUT e para o usuário.
• Plataforma modular, expansível e atualizável permite o teste de todos os dispositivos de energia.

Como uma solução de medição pronta para uso, o PD1500A oferece medições confiáveis e repetíveis de semicondutores de banda larga. A plataforma garante a segurança do usuário e a proteção do hardware de medição do sistema.

A capacidade de garantir resultados DPT repetíveis baseia-se na experiência da Keysight em ciência de medição. Exemplos incluem inovações em testes de alta frequência (faixa de gigahertz), baixo vazamento (faixa de femtoampere) e potência pulsada (corrente de 1.500 A, resolução de 10 μs). Como resultado, a Keysight está em uma posição única para ajudá-lo a superar os desafios da caracterização dinâmica de semicondutores de potência.

O PD1500A inclui técnicas de medição padrão, como compensação de sonda, ajuste de desvio, correção de distorção e rejeição de ruído de modo comum. Essas técnicas são utilizadas em uma topologia e layout de medição inovadores. Uma rotina de calibração semiautomatizada (AutoCal) que corrige erros de ganho e desvio do sistema foi desenvolvida especificamente para este sistema. O sistema também utiliza técnicas de desembutimento para compensar parasitas indutivos no shunt de corrente.

A JEDEC é líder global no desenvolvimento de padrões abertos e publicações para a indústria microeletrônica. Os comitês da JEDEC fornecem liderança industrial no desenvolvimento de padrões para uma ampla gama de tecnologias.

Comitê JEDEC: JC-70 Semicondutores de conversão eletrônica de potência de banda larga
As normas JEDEC reconheceram a necessidade de fornecer normas WBG para a indústria de semicondutores de potência. Em setembro de 2017, foi formado o comitê JC70 de semicondutores de conversão eletrônica de potência de banda larga para GaN JC70.1 e SiC JC-70.2. Cada seção tem três grupos de trabalho, com foco em procedimentos de confiabilidade e qualificação, elementos e parâmetros da ficha técnica e métodos de teste e caracterização.

A Keysight está participando ativamente do desenvolvimento dessas normas.

À medida que a JEDEC continua a definir os testes dinâmicos dos dispositivos WBG, alguns testes padronizados começam a surgir. O PD1500A DPT da Keysight determina estes parâmetros-chave de desempenho:

• Características de ativação
• Características de desligamento
• Resistência dinâmica de ativação
• Corrente e tensão dinâmicas
• Características de comutação
• Recuperação reversa
• Carga do portão
• Características de saída derivadas