Wie man die Stromversorgungskapazität des i7090 erweitert

Angebot anfordern
Expert Parallele Testsysteme
+ Expert Parallele Testsysteme
Expert Parallele Testsysteme
+ Expert Parallele Testsysteme

Erweiterung der Stromversorgung der Parallelplatine

Parallele In-Circuit-Testsysteme erfordern eine koordinierte Stromverteilung über mehrere Leiterplatten bei gleichzeitiger stabiler Relaissteuerung und synchronisierter Leistungssequenzierung. Die Testarchitektur muss die gleichzeitige Aktivierung von Leiterplatten, das Schalten von Relais und das modulare Stromversorgungsmanagement unterstützen, um den Fertigungsdurchsatz über parallele Testkerne hinweg zu erhöhen.

Der Messablauf umfasst die Verlegung von Stromversorgungskanälen über dedizierte Leistungsrelais und Universalrelais, um Spannungs- und Strompfade auf mehrere Platinen zu verteilen. Die Systemkonfiguration nutzt Relais-Mapping, synchronisierte Kanalsteuerung und gemeinsame Stromversorgung, um die standardmäßige Stromversorgungskapazität von 16 Platinen auf bis zu 20 Platinen in einer massiv parallelen Fertigungsumgebung zu erweitern.

Stromversorgungslösung für Parallelplatinen

Die Stromversorgung paralleler Leiterplatten erfordert koordiniertes Relaisschalten, modulare Stromverteilung und synchronisierte Leistungssequenzierung über mehrere In-Circuit-Testkanäle. Die Lösung integriert das i7090 Massively Parallel Board Test System mit modularen N6700-Netzteilen und einer internen Leistungsrelaisplatine mit 16 Leistungsrelais und 24 GP-Relais. Die Architektur ermöglicht die gemeinsame Stromversorgung mehrerer Leiterplatten durch die Zuweisung von vier GP-Relais zu jedem erweiterten Stromkanalpfad. Das System unterstützt die gleichzeitige Stromversorgung von bis zu 20 Leiterplatten bei gleichzeitiger Aufrechterhaltung der Relaissynchronisation und kontrollierten Sequenzierung über alle aktiven Testkerne hinweg. Dank integrierter Relaiszuordnung und PXI-basierter In-Circuit-Testfähigkeit erhöht die Lösung den Durchsatz in der parallelen Fertigung, ohne dass zusätzliche Testsysteme in voller Größe erforderlich sind.
Angebot anfordern

Entdecken Sie Produkte in unserer Lösung für die Stromversorgung von Parallelplatinen

Verwandte Anwendungsfälle

Durchführung von PCBA-Chipsatztests

Die Prüfung von Leiterplatten erfordert einen Boundary-Scan-Test. Erfahren Sie, wie Sie PCBA-Chipsätze mit einem In-Circuit-Tester und einem Boundary-Scan-Analysator testen können.

Mehr erfahren

Testen von PCBAs mit hohen Stückzahlen

Das Testen von Leiterplatten für die Großserienfertigung erfordert eine Technik zur Verkleidung von Leiterplatten (PCB) und ein paralleles Testsystem. Erfahren Sie, wie Sie PCBAs in hohen Stückzahlen mit einem massiv parallelen Prüfsystem testen können.

Mehr erfahren

Verbesserung der Produktionsabläufe

Die Verbesserung von Fertigungsabläufen erfordert Echtzeit-Einblicke in die Produktqualität, Fertigungsprozesse und Anlagen. Erfahren Sie, wie Sie die aus Big Data gewonnenen Informationen zur Verbesserung der Fertigungsabläufe nutzen können.

Mehr erfahren

Kontakt Logo

Kontaktieren Sie einen unserer Experten

Benötigen Sie Hilfe bei der Suche nach der richtigen Lösung für Sie?

Kontakt