So erweitern Sie die Stromversorgungsfähigkeit des i7090

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Parallele Leiterplatten-Stromversorgung erweitern

Parallele In-Circuit-Testsysteme erfordern eine koordinierte Stromverteilung über mehrere Leiterplatten hinweg, während eine stabile Relaissteuerung und eine synchronisierte Leistungssequenzierung aufrechterhalten werden. Die Testarchitektur muss die gleichzeitige Aktivierung von Leiterplatten, das Schalten von Relais und das Management modularer Netzteile unterstützen, um den Fertigungsdurchsatz über parallele Testkerne hinweg zu erhöhen.

Der Mess-Workflow umfasst die Weiterleitung von Stromversorgungskanälen über dedizierte Leistungsrelais und Allzweckrelais, um Spannungs- und Strompfade über mehrere Leiterplatten zu verteilen. Die Systemkonfiguration nutzt Relais-Mapping, synchronisierte Kanalsteuerung und gemeinsame Strompfadführung, um die standardmäßige Stromversorgungsfähigkeit für 16 Leiterplatten auf bis zu 20 Leiterplatten in einer massiv parallelen Fertigungsumgebung zu erweitern.

Lösung für parallele Leiterplatten-Stromversorgung

Die parallele Platinenstromversorgung erfordert eine koordinierte Relaisschaltung, eine modulare Stromverteilung und eine synchronisierte Leistungssequenzierung über mehrere In-Circuit-Testkanäle hinweg. Die Lösung integriert das i7090 Massively Parallel Board Test System mit modularen N6700 Netzgeräten und einer internen Power-Relay-Platine mit 16 Leistungsrelais und 24 GP-Relais. Die Architektur ermöglicht ein gemeinsames Power-Routing zwischen mehreren Platinen, indem jedem erweiterten Stromkanalpfad vier GP-Relais zugewiesen werden. Das System unterstützt die gleichnamige Stromversorgung von bis zu 20 Platinen, während gleichzeitig die Relais-Synchronisation und eine gesteuerte Sequenzierung über alle aktiven Testkerne hinweg aufrechterhalten werden. Mit integriertem Relais-Mapping und PXI-basierter In-Circuit-Testfähigkeit erhöht die Lösung den parallelen Fertigungsdurchsatz, ohne dass zusätzliche vollwertige Testsysteme erforderlich sind.
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