Come aumentare la capacità di alimentazione dell'i7090

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Espansione dell'alimentazione delle schede parallele

I sistemi di collaudo in circuito paralleli richiedono una distribuzione coordinata dell'alimentazione su più circuiti stampati, garantendo al contempo un controllo stabile dei relè e una sequenza di alimentazione sincronizzata. L'architettura di collaudo deve supportare l'attivazione simultanea delle schede, la commutazione dei relè e la gestione modulare dell'alimentazione, al fine di aumentare la produttività nei nuclei di collaudo paralleli.

Il flusso di lavoro di misurazione prevede l'instradamento dei canali di alimentazione attraverso relè di potenza dedicati e relè per uso generico, al fine di distribuire i percorsi di tensione e corrente su più schede. La configurazione del sistema utilizza la mappatura dei relè, il controllo sincronizzato dei canali e l'instradamento condiviso dell'alimentazione per espandere la capacità di alimentazione standard di 16 schede, in modo da supportarne fino a 20 in un ambiente di produzione altamente parallelo.

Soluzione di alimentazione per schede parallele

L'alimentazione parallela delle schede richiede una commutazione coordinata dei relè, una distribuzione modulare dell'alimentazione e una sequenzializzazione sincronizzata dell'alimentazione su più canali di test in-circuit. La soluzione integra il sistema di test delle schede massivamente parallelo i7090 con alimentatori modulari N6700 e una scheda interna di relè di potenza contenente 16 relè di potenza e 24 relè GP. L'architettura consente l'instradamento condiviso dell'alimentazione tra più schede, assegnando quattro relè GP a ciascun percorso del canale di alimentazione espanso. Il sistema supporta l’alimentazione simultanea di un massimo di 20 schede, mantenendo la sincronizzazione dei relè e la sequenzializzazione controllata su tutti i nuclei di test attivi. Grazie alla mappatura integrata dei relè e alla funzionalità di test in-circuit basata su PXI, la soluzione aumenta la produttività della produzione in parallelo senza richiedere ulteriori sistemi di test di dimensioni standard.
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