Comment augmenter la capacité d'alimentation de l'i7090

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Développer l'alimentation des cartes parallèles

Les systèmes de test en circuit parallèle nécessitent une distribution coordonnée de l'alimentation sur plusieurs cartes de circuits imprimés, tout en garantissant une commande stable des relais et une séquence d'alimentation synchronisée. L'architecture de test doit prendre en charge l'activation simultanée des cartes, la commutation des relais et la gestion modulaire de l'alimentation afin d'augmenter le rendement de production sur l'ensemble des modules de test parallèles.

Le processus de mesure consiste à acheminer les canaux d'alimentation via des relais d'alimentation dédiés et des relais à usage général afin de répartir les circuits de tension et de courant sur plusieurs cartes. La configuration du système repose sur le mappage des relais, le contrôle synchronisé des canaux et l'acheminement partagé de l'alimentation, ce qui permet d'étendre la capacité d'alimentation standard de 16 cartes pour prendre en charge jusqu'à 20 cartes dans un environnement de fabrication massivement parallèle.

Solution d'alimentation en parallèle des cartes

L’alimentation parallèle des cartes nécessite une commutation coordonnée des relais, une distribution modulaire de l’alimentation et une séquence d’alimentation synchronisée sur plusieurs canaux de test en circuit. La solution intègre le système de test de cartes massivement parallèle i7090, des alimentations modulaires N6700 et une carte de relais d’alimentation interne comprenant 16 relais d’alimentation et 24 relais GP. Cette architecture permet un acheminement partagé de l’alimentation entre plusieurs cartes en affectant quatre relais GP à chaque chemin de canal d’alimentation étendu. Le système prend en charge l’alimentation simultanée de jusqu’à 20 cartes tout en maintenant la synchronisation des relais et un séquencement contrôlé sur l’ensemble des cœurs de test actifs. Grâce à la mise en correspondance intégrée des relais et à la capacité de test en circuit basée sur la norme PXI, cette solution augmente le débit de fabrication en parallèle sans nécessiter de systèmes de test supplémentaires de taille standard.
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