Comment tester les PCBA à haut volume

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Test avec un système de test de cartes massivement parallèle

Le test des cartes de fabrication en grande quantité nécessite une technique de panélisation des cartes de circuits imprimés (PCB) et un système de test parallèle qui permet aux opérateurs de tester plusieurs cartes. Cette technique permet d'intégrer des cartes plus petites et moins complexes dans un panneau de taille gérable, ce qui est plus rentable et réduit considérablement le temps de chargement et le temps de test. En outre, les tests massivement parallèles permettent de tester simultanément plusieurs cartes.

Cela réduit le besoin de montages supplémentaires, d'opérateurs de test et d'espace au sol, ce qui permet en fin de compte de réduire les coûts et d'améliorer l'évolutivité de la production. Outre le test en circuit (ICT), les fabricants ont besoin d'une programmation en système avec une capacité de lecture/écriture pour effectuer la programmation flash. Le système doit également permettre l'intégration d'instruments de test fonctionnel et de systèmes d'alimentation afin de répondre aux diverses exigences de test et de maintenir des volumes de production élevés.

Solution de test de PCBA à haut volume

Les tests d'assemblage de cartes de circuits imprimés (PCBA) à haut volume nécessitent un système de test capable d'effectuer des TIC, des programmations flash et des tests fonctionnels pour suivre les volumes de production élevés. Le système de test de cartes massivement parallèles de Keysight relève les défis de la fabrication et du test en grande série, en offrant une évolutivité et une configuration flexibles, la capacité de maximiser l'efficacité du test de divers agencements de cartes de circuits imprimés, et permet le test de plusieurs (jusqu'à 20 cartes) dispositifs sous test (DUT) simultanément. Le système peut également effectuer des tests sans alimentation et sans vecteur pour les tests de composants. En introduisant les données du système de test dans le logiciel de processus de fabrication de Keysight, les fabricants peuvent obtenir des informations exploitables pour identifier les causes profondes des échecs des tests fonctionnels et des problèmes de rebut, ce qui se traduit par une amélioration de l'efficacité.
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