Come testare i PCBA ad alto volume

Tester in circuito
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Test con un sistema di test su scheda massicciamente parallelo

I test per la produzione di schede in grandi volumi richiedono una tecnica di pannellizzazione dei circuiti stampati (PCB) e un sistema di test parallelo che consenta agli operatori di testare più schede. Questa tecnica consente di inserire schede più piccole e meno complesse in un pannello di dimensioni gestibili, che è più economico e riduce notevolmente i tempi di caricamento e di collaudo. Inoltre, il test in parallelo consente di testare simultaneamente più schede.

In questo modo si riduce la necessità di dispositivi aggiuntivi, operatori di test e spazio a terra, con conseguente risparmio di costi e miglioramento della scalabilità della produzione. Oltre ai test in-circuit (ICT), i produttori richiedono una programmazione di sistema con capacità di lettura/scrittura per eseguire la programmazione della flash. Il sistema deve inoltre supportare l'integrazione di strumenti di test funzionali e sistemi di alimentazione per soddisfare i vari requisiti di test e tenere il passo con gli elevati volumi di produzione.

Soluzione di test per PCBA ad alto volume

Il collaudo di assemblaggi di circuiti stampati (PCBA) in grandi volumi richiede un sistema di test in grado di condurre test ICT, di programmazione flash e funzionali per stare al passo con gli alti volumi di produzione. Il sistema di collaudo di schede in parallelo massivo di Keysight risponde alle sfide della produzione e del collaudo di grandi volumi, offrendo scalabilità e configurazione flessibili, la capacità di massimizzare l'efficienza del collaudo di vari layout di PCB e consentendo il collaudo di più dispositivi in prova (DUT) contemporaneamente (fino a 20 schede). Il sistema può anche eseguire test non alimentati e vettoriali per il collaudo dei componenti. Alimentando i dati del sistema di test con il software Keysight per i processi di produzione, i produttori possono ottenere informazioni utili per identificare le cause principali dei guasti dei test funzionali e dei problemi di scarto, con conseguente miglioramento dell'efficienza.

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